尺寸测量设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116242290A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310525637.1

    申请日:2023-05-11

    IPC分类号: G01B21/00 G01B21/18

    摘要: 本发明提供了一种尺寸测量设备,所述尺寸测量设备包括:相对于机架固定设置的工作台,所述工作台包括用于放置工件的基准端面,所述基准端面设置有定位结构以定位工件;和,多个测量单元,所述多个测量单元活动设置于机架且能够分别相对于所述工作台移动。本发明提供的尺寸测量设备通过对多个测量单元的位置进行调整,可以适应不同的工件待测部布局,实现尺寸测量设备的柔性化,使得本发明所公开的尺寸测量设备可以灵活地适用于不同的工件待测部布局,在面对产品的更迭时,可以灵活地对测量装置进行调整,不需要对测量装置进行较大的改造,成本低且效率高。

    尺寸测量设备
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116242290B

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202310525637.1

    申请日:2023-05-11

    IPC分类号: G01B21/00 G01B21/18

    摘要: 本发明提供了一种尺寸测量设备,所述尺寸测量设备包括:相对于机架固定设置的工作台,所述工作台包括用于放置工件的基准端面,所述基准端面设置有定位结构以定位工件;和,多个测量单元,所述多个测量单元活动设置于机架且能够分别相对于所述工作台移动。本发明提供的尺寸测量设备通过对多个测量单元的位置进行调整,可以适应不同的工件待测部布局,实现尺寸测量设备的柔性化,使得本发明所公开的尺寸测量设备可以灵活地适用于不同的工件待测部布局,在面对产品的更迭时,可以灵活地对测量装置进行调整,不需要对测量装置进行较大的改造,成本低且效率高。