一种远距离高精度的对中调试装置及其调试方法

    公开(公告)号:CN108007394B

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201711245950.0

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种远距离高精度的对中调试装置及其调试方法,激光远距离传播后首先透过散射片发生漫反射形成散射场,再通过镜头成像对激光光束进行整形,形成光斑直径小、无衍射条纹、能量均匀稳定的圆形光斑。光斑位置检测采用高精度二维光电位置传感器PSD,光电流进过I/V转换和放大后通过数据采集卡得到电压信号,通过位置计算公式解算出光斑坐标信息,从而实现对中调试。本发明克服了激光远距离照射出现大光斑、衍射光纹等致使检测受限的问题,可直接实现激光光斑位置的高精度检测,实现长达200m远距离的对中调试。

    一种远距离高精度的对中调试装置及其调试方法

    公开(公告)号:CN108007394A

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201711245950.0

    申请日:2017-11-30

    CPC classification number: G01B11/27

    Abstract: 本发明公开了一种远距离高精度的对中调试装置及其调试方法,激光远距离传播后首先透过散射片发生漫反射形成散射场,再通过镜头成像对激光光束进行整形,形成光斑直径小、无衍射条纹、能量均匀稳定的圆形光斑。光斑位置检测采用高精度二维光电位置传感器PSD,光电流进过I/V转换和放大后通过数据采集卡得到电压信号,通过位置计算公式解算出光斑坐标信息,从而实现对中调试。本发明克服了激光远距离照射出现大光斑、衍射光纹等致使检测受限的问题,可直接实现激光光斑位置的高精度检测,实现长达200m远距离的对中调试。

Patent Agency Ranking