-
公开(公告)号：CN112362732A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011127885.3
申请日：2020-10-21
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N29/04
Abstract: 本发明公开一种基于激光超声椭圆成像的自由曲面缺陷探测方法及系统。获得被测样品的三维面形，在样品表面设置一系列激发点与检测点，并固定一检测点，脉冲激光线源在样品表面各激发点依次激发激光超声，激光探测装置在检测点接收声表面波反射信号，直至扫描完成所有的激发点，激光超声信号输入计算机；改变检测点位置，重复上述步骤；在待测区域内分别逐点计算到达激发点和检测点的曲面最短距离，利用椭圆成像算法，完成反射回波信号处理，将所有检测点的计算结果累加，得到样品面缺陷的成像结果。本发明通过计算曲面上两点之间测地线距离，得到激光激发的超声表面波在曲面上的传播路径，使用椭圆成像算法，实现了对自由曲面样品面缺陷的探测。
-
公开(公告)号：CN109799191A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201711146119.X
申请日：2017-11-17
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种固体材料粗糙表面声扰动的光学非接触检测装置及方法，该装置包括检测连续激光源、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜、第三聚焦透镜、第四聚焦透镜、固体材料样品、数字微镜阵列、光阑、工业相机CCD、光电探测器、计算机、示波器。方法为：首先将一束连续检测激光聚焦于样品表面，使用数字微镜阵列搜集并均分反射的散射光斑；然后将声扰动引起的样品表面质点振动，转化为散射光斑在数字微镜上的移动；接着使用光电探测器接收数字微镜反射光斑的功率变化，最终实现粗糙表面声扰动的光学检测。本发明可实现对沿粗糙固体材料表面声扰动的非接触式检测。
-
公开(公告)号：CN112362732B
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202011127885.3
申请日：2020-10-21
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N29/04
Abstract: 本发明公开一种基于激光超声椭圆成像的自由曲面缺陷探测方法及系统。获得被测样品的三维面形，在样品表面设置一系列激发点与检测点，并固定一检测点，脉冲激光线源在样品表面各激发点依次激发激光超声，激光探测装置在检测点接收声表面波反射信号，直至扫描完成所有的激发点，激光超声信号输入计算机；改变检测点位置，重复上述步骤；在待测区域内分别逐点计算到达激发点和检测点的曲面最短距离，利用椭圆成像算法，完成反射回波信号处理，将所有检测点的计算结果累加，得到样品面缺陷的成像结果。本发明通过计算曲面上两点之间测地线距离，得到激光激发的超声表面波在曲面上的传播路径，使用椭圆成像算法，实现了对自由曲面样品面缺陷的探测。
-
公开(公告)号：CN109799191B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201711146119.X
申请日：2017-11-17
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种固体材料粗糙表面声扰动的光学非接触检测装置及方法，该装置包括检测连续激光源、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜、第三聚焦透镜、第四聚焦透镜、固体材料样品、数字微镜阵列、光阑、工业相机CCD、光电探测器、计算机、示波器。方法为：首先将一束连续检测激光聚焦于样品表面，使用数字微镜阵列搜集并均分反射的散射光斑；然后将声扰动引起的样品表面质点振动，转化为散射光斑在数字微镜上的移动；接着使用光电探测器接收数字微镜反射光斑的功率变化，最终实现粗糙表面声扰动的光学检测。本发明可实现对沿粗糙固体材料表面声扰动的非接触式检测。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.025 seconds)
