基于光矢量分析的光时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN113340571B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202110596035.6

    申请日:2021-05-29

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种基于光矢量分析的光时延测量方法,用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制;然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号;提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。本发明还公开一种基于光矢量分析的光时延测量装置。相比现有技术,本发明同时具有超远的测量距离及较高的时域分辨力和时延测量精度。

    基于光载微波干涉的光纤时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110995341B

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN201911362801.1

    申请日:2019-12-26

    摘要: 本发明公开了一种基于光载微波干涉的光纤时延测量方法,将两路波长不同的光载波耦合为一路后,用微波信号对其进行强度调制;将所得调制光信号中的两路不同波长的光载微波信号分离出来,令其中一路通过待测光纤后与另一路光载微波信号耦合为一路,对耦合后的光载微波信号进行光电探测并测量出所得光电流的幅度;令所述微波信号从零开始扫频,并在每个频点重复以上过程,从而得到随所述微波信号频率变化而呈周期性变化的光电流幅度信息,最后根据所述光电流幅度信息解算出待测光纤的时延。本发明还公开了一种基于光载微波干涉的光纤时延测量装置。本发明可以低成本实现高精度、大范围的光纤时延测量。

    基于光载微波干涉的光纤时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110995341A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911362801.1

    申请日:2019-12-26

    摘要: 本发明公开了一种基于光载微波干涉的光纤时延测量方法,将两路波长不同的光载波耦合为一路后,用微波信号对其进行强度调制;将所得调制光信号中的两路不同波长的光载微波信号分离出来,令其中一路通过待测光纤后与另一路光载微波信号耦合为一路,对耦合后的光载微波信号进行光电探测并测量出所得光电流的幅度;令所述微波信号从零开始扫频,并在每个频点重复以上过程,从而得到随所述微波信号频率变化而呈周期性变化的光电流幅度信息,最后根据所述光电流幅度信息解算出待测光纤的时延。本发明还公开了一种基于光载微波干涉的光纤时延测量装置。本发明可以低成本实现高精度、大范围的光纤时延测量。

    一种基于相推法的光器件时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110715796A

    公开(公告)日:2020-01-21

    申请号:CN201911057880.5

    申请日:2019-11-01

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种基于相推法的光器件时延测量方法,预先根据测量需求确定扫频频率范围并在其中选取多个扫频频点;在每一个扫频频点,用该频率的微波调制信号对光载波进行调制,并通过鉴相器测量出调制光信号经过待测光器件前后微波调制信号的相位变化;对所测得的一系列相位变化进行相位展开,并利用相位展开所得到的各扫频频点的展开相位计算出最大扫频频点的整周模糊度,最后根据所述最大扫频频点的整周模糊度计算出待测光器件的时延。本发明还公开了一种基于相推法的光器件时延测量装置。本发明可大幅度减少扫描频点数,从而提高测量效率并减少环境误差对测量的影响。

    基于光矢量分析的光时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN113340571A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110596035.6

    申请日:2021-05-29

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种基于光矢量分析的光时延测量方法,用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制;然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号;提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。本发明还公开一种基于光矢量分析的光时延测量装置。相比现有技术,本发明同时具有超远的测量距离及较高的时域分辨力和时延测量精度。