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公开(公告)号：CN105651385A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201610022137.6
申请日：2016-01-13
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G01J3/45
摘要： 本发明公开了一种基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。该测量装置包括干涉器件、干涉控制器、探测器和计算处理单元。待测太赫兹波经由干涉器件后形成两束或两束以上太赫兹波，之后再次相遇发生干涉，干涉控制器使得探测器在干涉控制器不同控制条件作用下可以测得不同的太赫兹波干涉强度；计算处理单元用来接收探测器的测量结果，并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉，且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN103759831B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201410001178.8
申请日：2014-01-03
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G01J3/45
摘要： 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN104166249A
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201410349829.2
申请日：2014-07-22
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G02F1/015
摘要： 本发明公开了一种太赫兹波的光学调制器件，用于对太赫兹波进行调制。该光学调制器件包括由金属层以及附着于所述金属层一侧表面的本征半导体层所构成的复合层，该本征半导体在照射其表面的光强调制下的最大等离子体频率小于调制范围内的太赫兹波的频率；复合层上设置有亚波长孔阵列结构。本发明还公开了一种太赫兹波的光学调制方法，令太赫兹波由光学调制器件的本征半导体层一侧向另一侧发射；通过改变照射在光学调制器件的本征半导体层表面的光强，使得穿过光学调制器件后的太赫兹波的强度随之变化，实现太赫兹波的调制。本发明可在正常温度下实现太赫兹波的强度调制，且调制的频率和幅度范围大、调制速度快，实现成本低。
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公开(公告)号：CN114544557A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210214605.5
申请日：2022-03-03
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G01N21/552 , G01N21/01
摘要： 本发明提出一种宽光谱、高灵敏度、高通量的生物化学传感器及其传感方法，包括宽带光源、容器、金属颗粒层、阵列式探测芯片以及与阵列式探测芯片连接的计算单元；通过探测从金属颗粒层各部位所射出的经过局域表面等离子体共振并经过散射、衍射、干涉效应后照射在各像素元位置处的光的强度，代入到矩阵方程的增广矩阵中并求解该矩阵方程，根据所获得的计算结果与初始计算结果相比是否有变化从而检测待测溶液或待测气体的折射率变化或物性变化。本发明解决了现有生物化学传感器体积较大、检测需要加入标记、制作复杂、成本较高、通量较低、灵敏度低、检测波段较窄、检测对象较为单一、不能实时检测等技术问题。
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公开(公告)号：CN109639362B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN201811422464.6
申请日：2018-11-27
申请人： 南京邮电大学
摘要： 本发明公开了一种基于散射效应的多输入多输出光通信系统，包括发射端和接收端，发射端包括光强调制器和光信号发送阵列，接收端包括第一准直器件、散射器件、第二准直器件、探测器，以及信号处理单元。其中，第一准直器件使光信号发送阵列内各信号发送区域光源所发出的其中一束光以固定角度入射到散射器件表面的不同部位。本发明通过将光信号发送阵列分成许多个不同信号发送区域，各区域内光源所发射的信号光在经过散射器件之后分别投射在探测器不同信号接收区域内的像素元，从而利用多个光源发出的调制光进行多路信号的并行传输。最终，通过将像素元所测数据代入到多个矩阵方程复原原始信号。该技术可在实现照明功能的同时实现大容量信号的传输。
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公开(公告)号：CN104142178B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201410357523.1
申请日：2014-07-24
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明公开了一种基于滤波膜阵列的光谱测量装置，包括沿入射光传播方向依次设置的光学准直装置、滤波膜阵列、探测阵列芯片；所述滤波膜阵列包括一组平行且在入射光方向上互不重叠的滤波膜，各滤波膜在所述探测阵列芯片的测量波段范围内的透射谱线互不相同；所述滤波膜阵列中的每一片滤波膜均有至少一个所述探测阵列芯片的像素元与其正对。本发明还公开了使用上述光谱测量装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明易于制作，成本低廉，利于实现批量生产。
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公开(公告)号：CN102636491B
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201210111269.8
申请日：2012-04-17
申请人： 南京邮电大学
摘要： 本发明公开了一种基于表面等离子体波的半导体缺陷检测方法，用于检测半导体表面平整度或半导体薄膜内部缺陷。本发明利用频率小于半导体等离子体频率的电磁波入射向刀片刃口与待测半导体之间的狭缝，从而在半导体表面产生表面等离子体波。该表面等离子体波可以从另一刀片刃口与待测半导体之间的狭缝位置处耦合为空间辐射电磁波，从而被探测器接收。通过改变刀片与半导体在水平方向的相对位置，当待测半导体表面或内部存在的缺陷的位置有表面等离子体波经过时，出射电磁波信号会产生相应变化，从而可根据此原理对半导体表面不平整或半导体内部缺陷进行检测。相比现有技术，本发明方法具有适用范围广、使用灵活、检测精度高、检测样品无损伤等优点。
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公开(公告)号：CN102721670A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN201210216218.1
申请日：2012-06-28
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G01N21/55
摘要： 本发明公开了一种半导体等离子体频率测量方法。本发明首先将两个金属刀片平行设置在待测半导体表面上方，然后向其中一个刀片刃口与待测半导体表面之间的狭缝发射宽频电磁波，在待测半导体表面激发出表面等离子体波，并利用设置在另一刀片外侧的光谱分析装置接收耦合出的电磁波；通过调整宽频电磁波频率以及两个刀片的间距，使得光谱分析装置刚好不能接收到入射宽频电磁波的全部频率信号，记录下此时光谱分析装置所能探测到的最大频率值；将该最大频率值乘以，即为待测半导体的等离子体频率。本发明方法利用表面等离子体波在半导体表面的传播特性对半导体等离子体频率进行准确实时地测量，具有实现成本低、对半导体无损伤、测量范围广等优点。
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公开(公告)号：CN110105265A
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201910541536.7
申请日：2019-06-21
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： C07D209/88
摘要： 本发明公开了一种9H-咔唑-2,7-二羧酸的合成方法，该方法在乙醇-干冰低温体系下进行，以2,7-二溴咔唑为起始原料，首先通过正丁基锂脱去二溴咔唑的氮原子上质子，之后用三甲基氯硅烷在咔唑的氮原子上接上TMS基团，之后继续添加正丁基锂进行锂卤交换反应，再通入过量的干燥CO2，在咔唑2,7位接上羧酸根，然后加入甲醇除去TMS基团，最后在酸性条件下中和体系得到9H-咔唑-2,7-二羧酸。该方法原料易得、生产成本低、合成时间短、产率有一定提高、产物纯度高，易于工业化生产，为9H-咔唑-2,7-二羧酸及其后续衍生物产业化提供了基础。
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公开(公告)号：CN105651385B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201610022137.6
申请日：2016-01-13
申请人： 南京邮电大学
IPC分类号： G01J3/45
摘要： 本发明公开了一种基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。该测量装置包括干涉器件、干涉控制器、探测器和计算处理单元。待测太赫兹波经由干涉器件后形成两束或两束以上太赫兹波，之后再次相遇发生干涉，干涉控制器使得探测器在干涉控制器不同控制条件作用下可以测得不同的太赫兹波干涉强度；计算处理单元用来接收探测器的测量结果，并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉，且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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