一种采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法

    公开(公告)号:CN103808743B

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201310590061.3

    申请日:2014-01-16

    Inventor: 杨英 范益 卞欣

    Abstract: 本发明公开了一种采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法,首先利用X射线衍射仪扫描钢材试样,获得钢材试样的XRD图谱,再利用XRD图谱对马氏体及奥氏体进行修正并求得各晶面的衍射强度,最终测得钢材试样奥氏体的含量;本发明所设计的采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法在试样存在织构的情况下,提高钢中奥氏体含量测量准确性。

    一种利用共聚焦显微镜对腐蚀坑深度进行测定的方法

    公开(公告)号:CN104897063A

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201510221002.8

    申请日:2015-05-04

    Inventor: 卞欣 范益 杨文秀

    Abstract: 本发明公开了一种利用共聚焦显微镜对腐蚀坑深度进行测定的方法,该方法充分利用了试样表面最原始的腐蚀信息,数据来源真实可靠,所以测定出的结果可信度较高;该方法由于将宏观上微小难辨的腐蚀形貌转变成较为直观形象的腐蚀坑的Profile图,所以更加完整地关注了腐蚀细节,从而大大提高了测量结果的准确性;该方法有效地弥补了普通深度测量仪测量精度不高、测量范围受限等一些不足之处,进一步拓宽了腐蚀坑的测量范围,利用该方法不仅可以测量腐蚀坑的深度,而且还可以对其宽度进行测量;该方法操作简单方便,耗费时间少,实验效率高,是试样局部腐蚀情况评定以及抵抗局部腐蚀能力评价时重要的实验手段之一。

    一种金相镶嵌的制样方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118190566A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410425313.5

    申请日:2024-04-10

    Abstract: 本发明公开了一种金相镶嵌的制样方法,涉及金相制样技术领域,包括:对镶嵌机进行预热;在镶嵌模板上放入待分析的金相样品;依次向镶嵌腔体内放入第一镶嵌材料和第二镶嵌材料,并通过压块压紧,其中,所述第一镶嵌材料的镶嵌致密性大于第二镶嵌材料的镶嵌致密性;在镶嵌机达到预定温度区间后进行保温,之后依次经过加温、加压、冷却后得到镶嵌制样。本发明通过将两种不同的镶嵌材料依次放入镶嵌机腔体内,一方面能够提高镶嵌试样的致密性,另一方面又能有效降低金相制样的成本,且实际操作时简单方便,耗费时间少,实验效率高。

    一种HIC氢致开裂试样金相制样的方法

    公开(公告)号:CN116499845A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202310303052.5

    申请日:2023-03-27

    Inventor: 卞欣 雍太平

    Abstract: 本发明公开了一种HIC氢致开裂试样金相制样的方法,涉及钢材检验技术领域,包括:对试样进行打磨;对打磨后的试样进行粗抛;对粗抛后的试样进行一次精抛;对一次精抛后的试样进行二次精抛。本发明新增二次精抛阶段,由于磨抛机转速缓慢而且只采用纯净水抛光,能够将试样与抛光剂内部的杂质颗粒完全隔离开来,在很大程度上降低了裂纹表面各种夹杂物的残留,较好地保留了氢致裂纹的原有形貌和全部细节,从而大大提高了实验结果的准确性和可靠性。该操作简单方便,耗费时间少实验效率高,是HIC氢致裂纹试样金相制样的有效方法之一。

    一种对试样表面裂纹缺陷进行腐蚀的方法

    公开(公告)号:CN106018046A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610567954.X

    申请日:2016-07-19

    CPC classification number: G01N1/32

    Abstract: 本发明是一种对试样表面裂纹缺陷进行腐蚀的方法,该方法包括以下步骤:(一)采用电压为50‑60v的电解抛光对裂纹试样进行抛光,抛光时间为65‑75s,将完成抛光的裂纹试样浸入浸蚀剂中,所述浸蚀剂为2‑5%的硝酸酒精溶液,在浸蚀剂中停留20‑120s的时间;(二)在裂纹试样在浸蚀的过程中轻微移动试样,试浸蚀剂在磨面上缓慢流动,促使气泡溢出,观察磨面变成灰暗色后取出;(三)取出试样后将其浸入无水乙醇中并轻微移动观察面,可多次浸入无水乙醇中清洗,以清洗掉裂纹附近的赃物以及杂物;(四)清洗后将其取出,再用医用脱脂棉将腐蚀面小心擦干即可,本发明大大提高了实验结果的准确性和可靠性并且操作简单,耗费时间少,是对裂纹缺陷试样进行复试的有效方法之一。

    利用共聚焦显微镜对试样表面进行三维重建的方法

    公开(公告)号:CN104318620A

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201410564323.3

    申请日:2014-10-21

    Inventor: 卞欣 范益

    CPC classification number: G06T17/30

    Abstract: 本发明公开一种利用共聚焦显微镜对试样表面进行三维重建的方法,属于材料分析与测试领域。本发明充分利用了共聚焦显微镜的超大景深,同时排除掉来自非焦平面的反射光的干扰,从而可以得到高清晰度、高对比度的三维立体形貌,弥补了扫描电镜以及金相显微镜存在的一些不足之处。由于实验参数取值范围缩小,参数取值更具针对性和可操作性,所以不但提高了实验结果的准确性,而且大大节约了实验时间,从而提高了共聚焦显微镜的实验效率。

    一种利用共聚焦显微镜对腐蚀坑深度进行测定的方法

    公开(公告)号:CN104897063B

    公开(公告)日:2018-05-22

    申请号:CN201510221002.8

    申请日:2015-05-04

    Inventor: 卞欣 范益 杨文秀

    Abstract: 本发明公开了一种利用共聚焦显微镜对腐蚀坑深度进行测定的方法,该方法充分利用了试样表面最原始的腐蚀信息,数据来源真实可靠,所以测定出的结果可信度较高;该方法由于将宏观上微小难辨的腐蚀形貌转变成较为直观形象的腐蚀坑的Profile图,所以更加完整地关注了腐蚀细节,从而大大提高了测量结果的准确性;该方法有效地弥补了普通深度测量仪测量精度不高、测量范围受限等一些不足之处,进一步拓宽了腐蚀坑的测量范围,利用该方法不仅可以测量腐蚀坑的深度,而且还可以对其宽度进行测量;该方法操作简单方便,耗费时间少,实验效率高,是试样局部腐蚀情况评定以及抵抗局部腐蚀能力评价时重要的实验手段之一。

    一种钢中奥氏体含量的测量方法

    公开(公告)号:CN103604821B

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201310618760.4

    申请日:2013-11-27

    Inventor: 杨英 范益 卞欣

    Abstract: 本发明公开了一种钢中奥氏体含量的测量方法,对于具有织构的钢试样采用Rietveld方法,并利用MAUD精修软件对XRD图谱进行结构精修,目的在于在测量钢中奥氏体含量时,可以提高试验结果的准确性。Rietveld精修方法具有以下几个优点:可以解决一些传统方法无法解决的问题,可以同时修正多个相,且XRD图谱中存在第三相(如碳化物)时,仍然可以得到奥氏体的含量,Rietveld精修方法做的是结构精修,在做定量分析时,不需要了解定量计算的公式。

    一种采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法

    公开(公告)号:CN103808743A

    公开(公告)日:2014-05-21

    申请号:CN201310590061.3

    申请日:2014-01-16

    Inventor: 杨英 范益 卞欣

    Abstract: 本发明公开了一种采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法,首先利用X射线衍射仪扫描钢材试样,获得钢材试样的XRD图谱,再利用XRD图谱对马氏体及奥氏体进行修正并求得各晶面的衍射强度,最终测得钢材试样奥氏体的含量;本发明所设计的采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法在试样存在织构的情况下,提高钢中奥氏体含量测量准确性。

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