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发明公开
一种基于国产芯片底层框架的应用软件测试故障分析方法审中-实审

公开(公告)号：CN116257433A

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN202211655890.0

申请日：2022-12-22

申请人： 南方电网数字电网研究院有限公司 , 贵州电网有限责任公司信息中心

发明人： 李承钊 , 汤杰 , 张晓刚 , 耿新 , 李英

IPC分类号： G06F11/36 , G06F18/241

摘要： 本发明涉及软件测试技术领域，具体为一种基于国产芯片底层框架的应用软件测试故障分析方法，所述故障分析方法包括有以下步骤：步骤S1：搭建适配测试成果库，并开发面向用户的共享客户端；步骤S2：通过检索资料和爬取信息，填充适配测试成果库的软件故障数据，作为数据基础；步骤S3：向用户开放共享客户端的使用，用户注册和登录客户端；步骤S4：用户在客户端上传软件故障数据，通过比对得到最优的故障诊断方案；步骤S5：如果用户上传的故障数据在库中没有相应的数据，适配测试成果库进行自主填充。通过建立适配测试成果库，用于记录基于国产芯片底层框架的应用软件的故障分析数据，为后续适配测试和克服故障的推进提供参考和依据。