一种O形密封圈多因子老化试验平台和老化试验方法

    公开(公告)号:CN110608995A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201911056970.2

    申请日:2019-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种O形密封圈多因子老化试验平台及老化试验方法,所述老化试验平台包括老化罐、与老化罐配套使用的智能老化箱和超温保护器;老化罐包括至少1个法兰组、底座和顶盖,法兰组内设置有安装O形密封圈的密封槽,智能老化箱包括箱体、电源开关、升温系统、盐雾系统、鼓风系统和控制系统;超温保护器包括与之相连的测温探头,超温保护器位于智能老化箱与外接电源之间。本试验平台结构简单、运行安全,可在热、挤压、被密封气体、湿、盐、表面涂覆物等多因子条件下,同时对多个O形密封圈进行老化,老化后可以在不分离O形密封圈和法兰的情况下测量O形密封圈的泄漏率,对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。

    一种O形密封圈多因子老化试验平台

    公开(公告)号:CN211292499U

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN201921860408.0

    申请日:2019-10-31

    Abstract: 本实用新型公开了一种O形密封圈多因子老化试验平台,所述老化试验平台包括包括老化罐、与老化罐配套使用的智能老化箱和超温保护器;老化罐包括至少1个法兰组、底座和顶盖,法兰组内设置有安装O形密封圈的密封槽,智能老化箱包括箱体、电源开关、升温系统、盐雾系统、鼓风系统和控制系统;超温保护器包括与之相连的测温探头,超温保护器位于智能老化箱与外接电源之间。本试验平台结构简单、运行安全,可在热、挤压、被密封气体、湿、盐、表面涂覆物等多因子条件下,同时对多个O形密封圈进行老化,老化后可以在不分离O形密封圈和法兰的情况下测量O形密封圈的泄漏率,对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。

    一种柱上箱式高压断路器防爆膜封板结构

    公开(公告)号:CN118352197A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410595628.4

    申请日:2024-05-14

    Abstract: 本发明公开了一种柱上箱式高压断路器防爆膜封板结构,涉及断路器防爆技术领域,包括断路器和封板,断路器和封板之间构成可调节距离的空腔,断路器和封板通过双头螺栓固定连接,断路器侧面依次设有防爆膜和压板,封板、压板、防爆膜和断路器上设有与双头螺栓相匹配的螺纹孔,封板能够增强防爆膜的防爆效果,通过双头螺栓来调整封板与防爆膜之间的距离,使得防爆膜达到爆破压力时,防爆膜打开,将壳体内部高压气体释放,为使壳体内部压力尽快释放,从而保证壳体的安全,结构简单,易于安装,便于调节、可靠性高,有效保证了箱式高压断路器的运维、检修安全和设备周围环境的安全。

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