一种功率模块压接型功率器件结温测量方法

    公开(公告)号:CN114297888A

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202111468076.3

    申请日:2021-12-03

    摘要: 本发明提供一种功率模块压接型功率器件结温测量方法,包括:1:确定水冷散热器测温点的位置;2:建立准确的水冷散热器的三维模型;3:利用有限元仿真软件对建立的水冷散热器模型进行稳态热仿真,得到散热器测温点与散热器台面之间的热阻值;4:提取实际功率模块测温点数据,根据散热器测温点温度与热阻、损耗之间的关系,间接推导计算功率器件损耗;5:计算功率器件结温。将功率模块压接型功率器件及其散热器作为研究对象,通过在与功率器件接触的散热器上加设测温点实测温度,并结合有限元仿真计算得到的散热器热阻结果、测温点温度实测结果获得功率器件传递散热器台面的损耗,以此来获得功率器件的结温。

    一种压接型功率模块IGBT热阻测试方法

    公开(公告)号:CN114384385A

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202111468662.8

    申请日:2021-12-03

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明提供一种压接型功率模块IGBT热阻测试方法,包括:步骤1:将压接型功率模块直接作为被试对象,与测试装置连接;步骤2:对被试子模块的IGBT进行K曲线标定试验;步骤3:对被试子模块的IGBT进行热路热阻测试试验;步骤4:获得IGBT的整体热路热阻参数。该方法能够将功率子模块直接作为被试对象,即对设备的IGBT和散热器直接作为被试对象,对整个热路热阻直接测试,省去了热路分析的环节,提高了热路热阻的准确性,同时,该方法能够在器件(功率模块)的整个生命周期内进行热阻测试,适于观测热阻的退化过程。该方法涉及一种压接型功率模块IGBT热阻测试装置,该测试装置能够完成从器件K曲线标定到热路热阻测试的全部试验,试验过程简单。

    ±800kV/5000MW柔直换流阀支柱式阀塔结构

    公开(公告)号:CN107911032B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN201711333702.1

    申请日:2017-12-14

    IPC分类号: H02M7/00

    摘要: 本发明涉及±800kV/5000MW柔直换流阀支柱式阀塔结构,包括多层阀段、多段支柱绝缘子结构,多段支柱绝缘子结构支撑固定多层阀段,每层阀段由若干阀段组成,所述阀段包括框架、功率模块,功率模块固定在框架内,框架由3组以上支撑部组成,每组支撑部由立柱、斜拉支撑、横向支撑梁、纵向支撑梁组成,立柱间横向由上下两根横向支撑梁固定,上下两根横向支撑梁之间通过纵向支撑梁支撑固定,纵向支撑梁与立柱之间固定有斜拉支撑。优点是:整体结构紧凑、相比传统形式占地空间减小25%;通过框架强化结构,支撑绝缘子间互连连接槽钢满足了8度烈度抗震要求,提高了阀段结构的整体性、应力分布均匀性和稳定性。

    ±800kV/5000MW柔直换流阀支柱式阀塔结构

    公开(公告)号:CN107911032A

    公开(公告)日:2018-04-13

    申请号:CN201711333702.1

    申请日:2017-12-14

    IPC分类号: H02M7/00

    CPC分类号: H02M7/003

    摘要: 本发明涉及±800kV/5000MW柔直换流阀支柱式阀塔结构,包括多层阀段、多段支柱绝缘子结构,多段支柱绝缘子结构支撑固定多层阀段,每层阀段由若干阀段组成,所述阀段包括框架、功率模块,功率模块固定在框架内,框架由3组以上支撑部组成,每组支撑部由立柱、斜拉支撑、横向支撑梁、纵向支撑梁组成,立柱间横向由上下两根横向支撑梁固定,上下两根横向支撑梁之间通过纵向支撑梁支撑固定,纵向支撑梁与立柱之间固定有斜拉支撑。优点是:整体结构紧凑、相比传统形式占地空间减小25%;通过框架强化结构,支撑绝缘子间互连连接槽钢满足了8度烈度抗震要求,提高了阀段结构的整体性、应力分布均匀性和稳定性。

    MMC子模块的功率循环加速试验装置及其控制方法

    公开(公告)号:CN110456201A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910774833.6

    申请日:2019-08-21

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本发明公开了MMC子模块的功率循环加速试验装置及其控制方法,包括被试单元、陪试单元、电抗单元、第一检测单元、第二检测单元、信号发生单元和比较单元;被试单元并联电连接在陪试单元的两端;电抗单元的第一端与被试单元的第一端连接,电抗单元的第二端与陪试单元的第一端连接;第一检测单元、第二检测单元与被试单元电连接;信号发生单元的第一端与被试单元的第二端连接,信号发生单元的第二端与比较单元的第一端连接;比较单元的第二端与电抗单元的第三端连接,比较单元的第三端与陪试单元的第二端连接,采用以上结构,能有效解决现有技术仅仅针对单个IGBT进行测试和研究导致无法得到与实际工况下子模块老化特性相一致的试验结果的问题。