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公开(公告)号:CN119595096A
公开(公告)日:2025-03-11
申请号:CN202311171071.3
申请日:2023-09-11
Applicant: 台达电子企业管理(上海)有限公司
Abstract: 本申请涉及一种紫外线灯光照强度测量方法、装置。所述方法包括:设置紫外线灯,在所述紫外线灯的上方安装反光罩,其中,所述反光罩内的光线包括所述紫外线灯发出的直射光以及所述直射光发射到所述反光罩上形成的反射光;将所述紫外线灯的功率设置为第一功率,获取直射比例分布,所述直射比例分布为各光照位置所述直射光光照强度占所述直射光加反射光光照强度比例的分布;将所述紫外线灯的功率调整为第二功率,获取所述第二功率下各光照位置的所述直射光光照强度分布,并根据所述直射光光照强度分布和直射比例分布计算得出所述第二功率下直射光加反射光的光照强度分布。采用本方法能够有效测量紫外线灯光照强度。