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公开(公告)号：CN106525240A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201611247477.5
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01J3/28
CPC分类号： G01N21/255 , G01N21/39 , G01N21/4795 , G01N21/65 , G01N2021/3129 , G01N2021/3137 , G01N2021/393 , G01N2021/399 , G01J3/28
摘要： 本发明的实施例提供了一种光谱探测装置，包括：激光源；聚焦透镜，布置用于将光束会聚至待测样品上；光束收集装置，布置用于收集待测样品被光束激发的光束信号以形成收集光束并将其进行会聚以形成长条形光斑；狭缝，布置用于接收经过光束收集装置会聚的收集光束并将收集光束向光路的下游耦合；准直装置；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的收集光束进行分色以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，成像装置布置用于将子光束分别成像在阵列式光子探测器上，其中，由激光源发出的光束具有矩形的横截面，聚焦透镜是柱面透镜，长条形光斑照射到狭缝上且长度小于狭缝的长度以使长条形光斑在长度方向上能够完全落入狭缝。
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公开(公告)号：CN106525240B
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201611247477.5
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明的实施例提供了一种光谱探测装置，包括：激光源；聚焦透镜，布置用于将光束会聚至待测样品上；光束收集装置，布置用于收集待测样品被光束激发的光束信号以形成收集光束并将其进行会聚以形成长条形光斑；狭缝，布置用于接收经过光束收集装置会聚的收集光束并将收集光束向光路的下游耦合；准直装置；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的收集光束进行分色以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，成像装置布置用于将子光束分别成像在阵列式光子探测器上，其中，由激光源发出的光束具有矩形的横截面，聚焦透镜是柱面透镜，长条形光斑照射到狭缝上且长度小于狭缝的长度以使长条形光斑在长度方向上能够完全落入狭缝。
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公开(公告)号：CN106769898A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611249038.8
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/25
CPC分类号： G01N21/255
摘要： 本发明的实施例提供了一种多分辨率光谱仪。该多分辨率光谱仪包括：入射狭缝，布置用于接收入射光束；准直装置，布置用于对来自入射狭缝的光束进行准直；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的光束进行分色，以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，所述成像装置布置用于将所述多个子光束分别成像在所述阵列式光子探测器上，所述阵列式光子探测器用于将成像到其上的多个子光束的光信号转换成电信号，所述电信号用于形成光谱图，其中，所述入射狭缝具有第一狭缝部分和第二狭缝部分，所述第二狭缝部分具有比第一狭缝部分更大的宽度。
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公开(公告)号：CN106769898B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201611249038.8
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/25
摘要： 本发明的实施例提供了一种多分辨率光谱仪。该多分辨率光谱仪包括：入射狭缝，布置用于接收入射光束；准直装置，布置用于对来自入射狭缝的光束进行准直；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的光束进行分色，以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，所述成像装置布置用于将所述多个子光束分别成像在所述阵列式光子探测器上，所述阵列式光子探测器用于将成像到其上的多个子光束的光信号转换成电信号，所述电信号用于形成光谱图，其中，所述入射狭缝具有第一狭缝部分和第二狭缝部分，所述第二狭缝部分具有比第一狭缝部分更大的宽度。
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公开(公告)号：CN106770176A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710042074.5
申请日：2017-01-20
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/01 , G01J5/00 , G05B19/048
CPC分类号： G01N21/65 , G01J3/4412 , G01J5/0003 , G01N21/01 , G01N2201/06113 , G01N2201/063 , G02B27/141 , G05B19/4065 , G05B2219/49353 , G01J5/00 , G01N2021/0112 , G05B19/048
摘要： 本发明的实施例提供了一种拉曼光谱检测设备和一种拉曼光谱检测设备的安全监控方法。该拉曼光谱检测设备包括：激光器，用于发射激发光；光学装置，用于将所述激发光引导至待测样品和收集来自所述待测样品的光信号；光谱仪，用于对接收的光信号进行分光以生成待测样品的拉曼光谱；以及安全探测器，用于检测所述待测样品发出的红外光。
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公开(公告)号：CN106525816A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201611122379.9
申请日：2016-12-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/65
CPC分类号： G01N21/65
摘要： 本发明涉及一种非接触式安全检查系统及方法，系统包括：激光源(1)，用于将探测光线检物体(4)上；光学收集器件，用于收集探测光线(11)在被检物体(4)上的激发光；光谱分析器(8)，用于对激发光的拉曼光谱特征进行分析，以确定被检物体(4)的特性；和遮挡装置，用于阻止探测光线(11)在容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入光学收集器件的感应区域。本发明有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。(11)穿过容器(3)或包装物并投射到其包含的被
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公开(公告)号：CN206348071U
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201621465938.1
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本实用新型的实施例提供了一种光谱探测装置，包括：激光源；聚焦透镜，布置用于将光束会聚至待测样品上；光束收集装置，布置用于收集待测样品被光束激发的光束信号以形成收集光束并将其进行会聚以形成长条形光斑；狭缝，布置用于接收经过光束收集装置会聚的收集光束并将收集光束向光路的下游耦合；准直装置；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的收集光束进行分色以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，成像装置布置用于将子光束分别成像在阵列式光子探测器上，其中，由激光源发出的光束具有矩形的横截面，聚焦透镜是柱面透镜，长条形光斑照射到狭缝上且长度小于狭缝的长度以使长条形光斑在长度方向上能够完全落入狭缝。
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公开(公告)号：CN206479455U
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201720078960.9
申请日：2017-01-20
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/01 , G01J5/00 , G05B19/048
摘要： 本实用新型的实施例提供了一种拉曼光谱检测设备。该拉曼光谱检测设备包括：激光器，用于发射激发光；光学装置，用于将所述激发光引导至待测样品和收集来自所述待测样品的光信号；光谱仪，用于对接收的光信号进行分光以生成待测样品的拉曼光谱；以及安全探测器，用于检测所述待测样品发出的红外光。借助于根据上述实施例的拉曼光谱检测设备，能够防止在拉曼光谱检测过程中因为样品过热损毁而导致安全性问题。
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公开(公告)号：CN206399836U
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201621340865.3
申请日：2016-12-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/65
摘要： 本实用新型涉及一种非接触式安全检查系统，包括：激光源(1)，用于将探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到其包含的被检物体(4)上；光学收集器件，用于收集探测光线(11)在被检物体(4)上的激发光；光谱分析器(8)，用于对激发光的拉曼光谱特征进行分析，以确定被检物体(4)的特性；和遮挡装置，用于阻止探测光线(11)在容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入光学收集器件的感应区域。本实用新型有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。
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公开(公告)号：CN206348265U
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201621468288.6
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/25
摘要： 本实用新型的实施例提供了一种多分辨率光谱仪。该多分辨率光谱仪包括：入射狭缝，布置用于接收入射光束；准直装置，布置用于对来自入射狭缝的光束进行准直；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的光束进行分色，以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，所述成像装置布置用于将所述多个子光束分别成像在所述阵列式光子探测器上，所述阵列式光子探测器用于将成像到其上的多个子光束的光信号转换成电信号，所述电信号用于形成光谱图，其中，所述入射狭缝具有第一狭缝部分和第二狭缝部分，所述第二狭缝部分具有比第一狭缝部分更大的宽度。
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