-
公开(公告)号：CN118154711A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410275691.X
申请日：2024-03-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 提供一种标定数据的生成方法，标定数据用于扫描成像设备的图像重建的校正，所述方法包括：将标定模体置于射线形成的扫描区域中，其中，标定模体包括分别由M种材料构成的M个部分，M种材料分别具有M个物理属性理论值，M为大于等于2的正整数；通过探测器采集经过扫描区域的射线，以获取实际投影数据；基于实际投影数据，利用图像重建算法对标定模体进行重建，以获得重建图像；对重建图像进行分割处理，以获得M个重建子图像，其中，M个重建子图像分别对应M个部分；针对M个重建子图像，分别计算出与M个部分对应的M个物理属性测量值；以及基于M个物理属性理论值和M个物理属性测量值，生成标定数据。
-
公开(公告)号：CN114167507B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202010957793.1
申请日：2020-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种多通道静态CT装置，其包括：扫描通道，所述扫描通道包括多条扫描子通道；分布式X射线源，所述分布式X射线源包括多个射线发射点，所述多个射线发射点围绕所述扫描通道布置；以及探测器模块，所述探测器模块包括多个探测器，所述多个探测器围绕所述扫描通道布置，所述多个探测器与所述多个射线发射点相应设置。
-
公开(公告)号：CN114609684A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202011432043.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
-
公开(公告)号：CN119184720A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411318154.5
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , A61B6/40 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
-
公开(公告)号：CN115105110A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202111204463.6
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114167507A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010957793.1
申请日：2020-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种多通道静态CT装置，其包括：扫描通道，所述扫描通道包括多条扫描子通道；分布式X射线源，所述分布式X射线源包括多个射线发射点，所述多个射线发射点围绕所述扫描通道布置；以及探测器模块，所述探测器模块包括多个探测器，所述多个探测器围绕所述扫描通道布置，所述多个探测器与所述多个射线发射点相应设置。
-
公开(公告)号：CN107688194B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201610630202.3
申请日：2016-08-03
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明涉及一种数据处理方法和数据处理装置。该方法可以包括根据已知能量射线入射得到的探测器响应对该探测器响应进行标定获得探测器响应模型的步骤；根据该探测器响应模型获得探测器入射能谱数据与探测器测得能谱数据之间的探测器光子计数模型的步骤；根据该探测器光子计数模型对该探测器测得能谱数据中各个能区探测器的光子计数进行反卷积处理计算获得探测器入射能谱数据中真实的各能区的光子计数的步骤。本发明还公开了一种数据处理装置。
-
公开(公告)号：CN114609684B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202011432043.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
-
公开(公告)号：CN115105110B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202111204463.6
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
-
公开(公告)号：CN118311070A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202211742812.4
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/20 , G01N23/2055 , G01N23/04
Abstract: 本公开提供了物品安检系统及方法，可以应用于安检技术领域。物品安检系统包括：至少一个第一检测装置，被配置成对物品进行检测，生成第一检测结果；第一判断装置，被配置成根据第一检测结果，生成第一判断结果，第一判断结果包括第一安全结果和第一非安全结果；至少一个第二检测装置，被配置成对第一判断结果为第一非安全结果的物品进行检测，生成第二检测结果；第二判断装置，被配置成至少根据第二检测结果，生成第二判断结果，第二判断结果包括第二安全结果和第二非安全结果；以及人工安检部，被配置成至少对第二判断结果为第二非安全结果的物品进行人工安检。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
20
records
(took 0.038 seconds)
