一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法

    公开(公告)号:CN104061881A

    公开(公告)日:2014-09-24

    申请号:CN201410330892.1

    申请日:2014-07-11

    Abstract: 一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法,它涉及一种光学装置及光学测量方法,具体涉及一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法。本发明为了解决目前还没有一种能够直观的观察、分析、储存接触区域真实接触面积的光学观测装置及光学测量方法的问题。本发明所述方法的具体步骤为将接触样本安装在所述夹具组件上;通过USB数据线将工业相机与计算机连接;缓慢施加压力,直至接触样本轻微接触;调整二维手动滑台使接触区域位于图像中心位置;接触力值保持20秒后保存图像,同时记录接触力值和同业相机显微镜头的放大倍数;利用图像处理程序,计算接触区域的真实接触面积。本发明用于电接触领域。

    一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法

    公开(公告)号:CN104061881B

    公开(公告)日:2017-01-18

    申请号:CN201410330892.1

    申请日:2014-07-11

    Abstract: 一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法,它涉及一种光学装置及光学测量方法,具体涉及一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法。本发明为了解决目前还没有一种能够直观的观察、分析、储存接触区域真实接触面积的光学观测装置及光学测量方法的问题。本发明所述方法的具体步骤为将接触样本安装在所述夹具组件上;通过USB数据线将工业相机与计算机连接;缓慢施加压力,直至接触样本轻微接触;调整二维手动滑台使接触区域位于图像中心位置;接触力值保持20秒后保存图像,同时记录接触力值和同业相机显微镜头的放大倍数;利用图像处理程序,计算接触区域的真实接触面积。本发明用于电接触领域。

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