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公开(公告)号：CN118330763B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202410386412.7
申请日：2024-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01V7/02
Abstract: 一种用于测试质量重复锁紧的八点位锁紧装置，本发明涉及一种锁紧装置，本发明为解决现有的测试质量锁紧机构锁紧位置不准确以及锁紧力不均匀等问题，本发明通过在测试质量的两侧对称设有一个锁紧装置，每个锁紧装置包括传动机构、执行机构和丝杆组件，所述传动机构通过丝杆组件与所述执行机构连接。本发明结构简单，可实现稳定的锁紧释放。本发明在测试质量两端的锁紧机构均引入相应的可调环节，以此分别来调整测试质量的锁紧位置以及锁紧力大小，保证了测试质量在发射过程中的锁紧位置精确，并且避免由于每个锁紧点锁紧力大小不一致导致机构对于测试质量表面的破坏以及释放测试质量过程时带来的扰动。本发明属于航天技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118254970B
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202410385069.4
申请日：2024-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种用于空间引力波探测中测试质量的捕获装置，本发明涉及一种测试质量的捕获装置，本发明为满足测试质量低扰动释放的要求，本发明包括捕获柱塞、中空轴超声电机、丝杠螺母组件、应变放大结构、端盖和底座，丝杠螺母组件安装在底座内中部，应变放大结构与丝杠螺母组件的上端，捕获柱塞的下端依次穿过应变放大结构、丝杠螺母组件后插装在中空轴超声电机内，捕获柱塞的上端嵌装在应变放大结构的卡槽内，端盖与应变放大结构的上表面固定连接。本发明具有结构简单、性能可靠、占用空间小、可重复使用的优点，确保了测试质量捕获过程的精度和稳定性。本发明属于航天技术领域。
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公开(公告)号：CN118330763A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410386412.7
申请日：2024-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01V7/02
Abstract: 一种用于测试质量重复锁紧的八点位锁紧装置，本发明涉及一种锁紧装置，本发明为解决现有的测试质量锁紧机构锁紧位置不准确以及锁紧力不均匀等问题，本发明通过在测试质量的两侧对称设有一个锁紧装置，每个锁紧装置包括传动机构、执行机构和丝杆组件，所述传动机构通过丝杆组件与所述执行机构连接。本发明结构简单，可实现稳定的锁紧释放。本发明在测试质量两端的锁紧机构均引入相应的可调环节，以此分别来调整测试质量的锁紧位置以及锁紧力大小，保证了测试质量在发射过程中的锁紧位置精确，并且避免由于每个锁紧点锁紧力大小不一致导致机构对于测试质量表面的破坏以及释放测试质量过程时带来的扰动。本发明属于航天技术领域。
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公开(公告)号：CN118330764B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202410386705.5
申请日：2024-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01V7/02
Abstract: 一种用于测试质量重复锁紧的六点位锁紧装置，本发明涉及一种锁紧装置，本发明为解决现有的测试质量锁紧机构锁紧位置不准确以及锁紧力不均匀等问题，本发明在测试质量的上、下两侧对称设有一个六点位锁紧装置，每个六点位锁紧装置包括上壳体、超声电机、齿轮减速器、丝杆螺母组件和顶杆组件，超声电机、齿轮减速器和丝杆螺母组件均位于上壳体内，超声电机的输出轴通过齿轮减速器与丝杆螺母组件连接，所述丝杆螺母组件与所述顶杆组件连接。本发明所设计的锁紧装置小型、轻量化、高精度、夹紧可靠，保证释放之前测试质量完全锁紧以及定位。本发明属于航天技术领域。
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公开(公告)号：CN118330764A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410386705.5
申请日：2024-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01V7/02
Abstract: 一种用于测试质量重复锁紧的六点位锁紧装置，本发明涉及一种锁紧装置，本发明为解决现有的测试质量锁紧机构锁紧位置不准确以及锁紧力不均匀等问题，本发明在测试质量的上、下两侧对称设有一个六点位锁紧装置，每个六点位锁紧装置包括上壳体、超声电机、齿轮减速器、丝杆螺母组件和顶杆组件，超声电机、齿轮减速器和丝杆螺母组件均位于上壳体内，超声电机的输出轴通过齿轮减速器与丝杆螺母组件连接，所述丝杆螺母组件与所述顶杆组件连接。本发明所设计的锁紧装置小型、轻量化、高精度、夹紧可靠，保证释放之前测试质量完全锁紧以及定位。本发明属于航天技术领域。
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公开(公告)号：CN118254970A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410385069.4
申请日：2024-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种用于空间引力波探测中测试质量的捕获装置，本发明涉及一种测试质量的捕获装置，本发明为满足测试质量低扰动释放的要求，本发明包括捕获柱塞、中空轴超声电机、丝杠螺母组件、应变放大结构、端盖和底座，丝杠螺母组件安装在底座内中部，应变放大结构与丝杠螺母组件的上端，捕获柱塞的下端依次穿过应变放大结构、丝杠螺母组件后插装在中空轴超声电机内，捕获柱塞的上端嵌装在应变放大结构的卡槽内，端盖与应变放大结构的上表面固定连接。本发明具有结构简单、性能可靠、占用空间小、可重复使用的优点，确保了测试质量捕获过程的精度和稳定性。本发明属于航天技术领域。
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