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公开(公告)号：CN105300563B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201510810135.9
申请日：2015-11-19
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种上转换荧光强度比测温技术的修正方法，本发明涉及一种上转换荧光强度比测温技术的修正方法。本发明是要解决现有测温技术测温结果不准确的问题，方法为：激发源发出的激发光经过凸透镜汇聚照射到感温材料上，感温材料所发射的上转换荧光通过凸透镜汇聚入射到光谱仪中，光谱仪连接存储示波器和计算机进行数据处理，给出修正曲线，即完成。本发明的修正方法消除了荧光强度比与玻尔兹曼分布律的偏差，在保持了荧光强度比方法抗干扰能力强、稳定性好、灵敏度高的优点的同时，提高了其测温的准确度。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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公开(公告)号：CN105300563A
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201510810135.9
申请日：2015-11-19
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种上转换荧光强度比测温技术的修正方法，本发明涉及一种上转换荧光强度比测温技术的修正方法。本发明是要解决现有测温技术测温结果不准确的问题，方法为：激发源发出的激发光经过凸透镜汇聚照射到感温材料上，感温材料所发射的上转换荧光通过凸透镜汇聚入射到光谱仪中，光谱仪连接存储示波器和计算机进行数据处理，给出修正曲线，即完成。本发明的修正方法消除了荧光强度比与玻尔兹曼分布律的偏差，在保持了荧光强度比方法抗干扰能力强、稳定性好、灵敏度高的优点的同时，提高了其测温的准确度。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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公开(公告)号：CN105466592B
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：CN201510801636.0
申请日：2015-11-19
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法，本发明涉及一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法。本发明是要解决现有测温技术测温结果不准确的问题，方法为：激发源发出的激发光经过凸透镜汇聚照射到感温材料上，感温材料所发射的下转换荧光通过凸透镜汇聚入射到光谱仪中，光谱仪连接存储示波器和计算机进行数据处理，给出修正曲线，即完成。本发明的修正方法消除了现有下转换荧光强度比与玻尔兹曼分布律的偏差，在保持了荧光强度比方法抗干扰能力强、稳定性好、灵敏度高的优点的同时，提高了其测温的准确度。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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公开(公告)号：CN105466592A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510801636.0
申请日：2015-11-19
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01K11/00
CPC分类号： G01K11/00
摘要： 一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法，本发明涉及一种下转换荧光强度比测温技术的修正方法。本发明是要解决现有测温技术测温结果不准确的问题，方法为：激发源发出的激发光经过凸透镜汇聚照射到感温材料上，感温材料所发射的下转换荧光通过凸透镜汇聚入射到光谱仪中，光谱仪连接存储示波器和计算机进行数据处理，给出修正曲线，即完成。本发明的修正方法消除了现有下转换荧光强度比与玻尔兹曼分布律的偏差，在保持了荧光强度比方法抗干扰能力强、稳定性好、灵敏度高的优点的同时，提高了其测温的准确度。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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