-
公开(公告)号:CN117518448A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311618124.1
申请日:2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B21/36 , G02B1/00 , G02B3/00 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B21/00 , G02B30/00 , G02B27/00 , G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于超构表面的三维显微成像方法,包括以下步骤:制作具有双螺旋点扩散函数特性的超构表面;以所述超构表面为核心搭建进行双螺旋点扩散函数调制的三维显微成像装置,获得双螺旋图像;以所述双螺旋图像中双螺旋光斑的中点确定待测样本的横向位置,两光斑中心连线的夹角确定待测样本的轴向位置。本发明还公开了一种基于超构表面的透射式三维显微成像装置和一种基于超构表面的反射式三维显微成像装置,且均包括照明模块、样品载物台、成像模块以及采集模块,而且成像模块均设有超构表面。本发明使用该超构表面替代传统的光场调控元件,提高成像效果。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域,且可用于该领域中三维显微成像。
-
公开(公告)号:CN117631244A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311451727.7
申请日:2023-11-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于双螺旋点扩散函数超构透镜三维显微成像系统及方法,它涉及一种三维显微成像系统及方法。本发明为了解决。本发明所述成像方法的步骤包括S100、通过仿真手段设计并加工具有多偏振态双螺旋点扩散函数特性的超构透镜;S200、搭建以超构透镜为核心进行多偏振态双螺旋点扩散函数调制的光学系统,通过超构透镜对待测分子成像,改变入射光不同偏振态,获得多个双螺旋图像;S300、通过偏振态和两光斑间距双重依据,判断光斑处于哪一重复用,根据双螺旋光斑中点确定待测分子横向位置,根据两光斑中心连线的夹角结合该数值孔径下标定结果,获得轴向位置。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域。
-
公开(公告)号:CN117991491B
公开(公告)日:2025-04-29
申请号:CN202311619712.7
申请日:2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B21/36 , G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B21/00 , G02B30/00 , G02B27/00 , G01N21/01
Abstract: 基于色散双螺旋点扩散函数超构透镜显微成像方法及装置,它涉及一种显微成像方法及装置。本发明为了解决空间光调制器成像质量差、不利于集成且成本较高的问题。本发明所述基于色散双螺旋点扩散函数超构透镜显微成像系统包括白光光源、滤波片、准直透镜、偏振片、四分之一波片、会聚透镜、样品载物台、超构透镜、显微物镜、右旋圆偏振片、管镜和CMOS相机;白光光源、滤波片、准直透镜、偏振片、四分之一波片和会聚透镜由左至右依次设置在样品载物台的一侧,超构透镜、显微物镜、右旋圆偏振片、管镜和CMOS相机由左至右依次设置在样品载物台的右侧。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域。
-
公开(公告)号:CN117991491A
公开(公告)日:2024-05-07
申请号:CN202311619712.7
申请日:2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B21/36 , G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B21/00 , G02B30/00 , G02B27/00 , G01N21/01
Abstract: 基于色散双螺旋点扩散函数超构透镜显微成像方法及装置,它涉及一种显微成像方法及装置。本发明为了解决空间光调制器成像质量差、不利于集成且成本较高的问题。本发明所述基于色散双螺旋点扩散函数超构透镜显微成像系统包括白光光源、滤波片、准直透镜、偏振片、四分之一波片、会聚透镜、样品载物台、超构透镜、显微物镜、右旋圆偏振片、管镜和CMOS相机;白光光源、滤波片、准直透镜、偏振片、四分之一波片和会聚透镜由左至右依次设置在样品载物台的一侧,超构透镜、显微物镜、右旋圆偏振片、管镜和CMOS相机由左至右依次设置在样品载物台的右侧。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域。
-
公开(公告)号:CN117518447A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311617865.8
申请日:2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B21/36 , G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B21/00 , G02B30/00 , G02B27/00 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种基于超构透镜的三维显微成像方法,包括下列步骤:制作具有双螺旋点扩散函数特性的超构透镜;以所述超构透镜为核心搭建进行双螺旋点扩散函数调制的三维显微成像装置,获得双螺旋图像;以所述双螺旋图像中双螺旋光斑的中点确定待测样品的横向位置,两光斑中心连线的夹角确定待测样品的轴向位置。本发明还公开了一种基于超构透镜的三维显微成像装置,包括照明模块、样品载物台、成像模块以及采集模块,而且成像模块均设有超构透镜。本发明使用该超构透镜替代传统的光场调控元件,提高成像效果。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域,且可用于该领域中三维显微成像。
-
-
-
-