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发明公开
一种微弱磁矩重复测量系统及重复测量方法审中-公开

公开(公告)号：CN120065083A

公开(公告)日：2025-05-30

申请号：CN202510115829.4

申请日：2025-01-24

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 林生鑫 , 申哲宸 , 林正桓 , 李立毅 , 潘东华 , 金银锡 , 孙芝茵 , 李君忠

IPC: G01R33/12 , G01R33/00

Abstract: 本发明公开了一种微弱磁矩重复测量系统及重复测量方法，属于磁矩测量技术领域，解决了现有微弱磁矩测量方法的多种缺陷及高精密测量需求问题。本发明利用单摆使待测材料往复运动，经磁传感器阵列测矢量磁场，计算磁梯度张量及相关分量，分析叠加分量图像确定时间点，最终通过反演算法得磁矩结果。本发明提出微弱磁矩重复测量法，不磁化材料，测量结果准、速度快，约3分钟完成多次测量，标准差小，精密度约0.1％，实现了高精密测量。

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