公开(公告)号：CN204515074U

公开(公告)日：2015-07-29

申请号：CN201520207503.6

申请日：2015-04-08

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 孙志 ,  付琳清 ,  刘丛吉 ,  韩柏

IPC: G01R31/12

Abstract: 基于扫描探针显微镜的材料耐高电压实验及检测装置，涉及一种材料耐高电压实验及检测装置。它是为了解决现有的介电强度实验装置在检测材料介电强度时不能原位的连续检测材料变化的问题。它的保护电阻的另一端与导电悬臂的一端连接；导电悬臂悬挂在压电陶瓷扫描器的上方，且与水平方向的夹角为锐角；扫描探针显微镜的探针固定在导电悬臂的另一端；压电陶瓷扫描器的上端放置有样品，扫描探针显微镜的探针位于样品的上方，且与样品的上表面接触；激光器发射的激光入射至扫描探针显微镜的探针背面，激光经扫描探针显微镜的探针反射至探测器；计时器和电流表均串联在保护电阻和高压电源之间。本实用新型适用于材料耐高电压实验及检测。

公开(公告)号：CN204479610U

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201520207523.3

申请日：2015-04-08

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 孙志 ,  付琳清 ,  刘丛吉 ,  韩柏

IPC: G01Q60/00 ,  G01Q60/46 ,  G01Q60/50

Abstract: 基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置，涉及一种材料耐电晕放电老化性能检测装置。本发明是为了解决现有的针板电晕放电测试装置在检测材料放电老化性能时，不能原位的连续检测材料的变化的问题。导电纸的另一端与导电悬臂的一端连接；导电悬臂悬挂在压电陶瓷扫描器的上方；扫描探针显微镜的探针固定在导电悬臂的另一端；压电陶瓷扫描器的上端放置有样品，扫描探针显微镜的探针位于样品的上方；激光器发射的激光入射至扫描探针显微镜的探针背面，激光经扫描探针显微镜的探针反射至探测器；继电器、计时器和电流表均串联在保护电阻和高压电源之间。本发明适用于材料耐电晕放电老化性能检测。