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1.

实用新型
用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置失效

公开(公告)号：CN204405533U

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201520118095.7

申请日：2015-02-27

申请人： 哈尔滨理工大学

发明人： 李子帙 , 李亮亮 , 施玉红

IPC分类号： G01N21/25

摘要： 用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置。现有的红外光谱仪未配备研究材料表面导电过程中微观结构的谱带变化的附件不能研究在材料表面导电时被测试样的分子间发生相互作用时的化学变化过程。本实用新型的组成包括：2个底座（6），所述的底座通过底座固定螺柱（7）固定支撑外电极（2），所述的外电极贴在薄膜试样（1）上，所述的薄膜试样上同时贴有内电极（4），所述的内电极通过内电极固定杆（5）支撑，所述的内电极与所述的外电极之间具有用于红外光谱仪研究材料表面导电过程中微观谱带变化时的光通路的孔隙（3）。本实用新型用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量。