公开(公告)号：CN206709771U

公开(公告)日：2017-12-05

申请号：CN201720556254.0

申请日：2017-05-18

申请人： 哈尔滨理工大学

发明人： 李子帙 ,  江志聪

IPC分类号： G01B5/30 ,  G01B5/20

摘要： 一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。形变固定率是决定形状记忆材料使用的另一重要指标，反映形状记忆材料在二次成型后保持其形状的能力，它的大小直接影响二次成型制品在使用中的存放与保管。因而是研究形状记忆高分子材料的一种有力手段。一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其组成包括：试样形变度量标尺（1）和试样度量支撑底盘（2），试样形变度量标尺与试样贴紧，试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样。本实用新型应用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。

公开(公告)号：CN206740065U

公开(公告)日：2017-12-12

申请号：CN201720556253.6

申请日：2017-05-18

申请人： 哈尔滨理工大学

发明人： 李子帙 ,  江志聪

IPC分类号： G01B5/30 ,  G01B5/20

摘要： 一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置。高聚物的电学性能往往非常灵敏地反映了材料内部结构的变化，因而是研究形状记忆高分子材料的一种有力手段。一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置，其组成包括：度量支撑底板（1）和形变度量标尺（2），形变度量标尺由度量支撑底板支撑，度量支撑底板的上表面平行设置有凹槽，形变度量标尺的下表面的两侧平行设置有与凹槽相匹配的凸起结构，形变度量标尺的凸起结构能够在度量支撑底板的凹槽内上下移动，形变度量标尺中心线与度量支撑底板的中心线重合。本实用新型应用于形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置。