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公开(公告)号：CN220473430U
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202320022134.8
申请日：2023-01-05
Applicant: 哈尔滨理工大学威海研究院
Inventor： 陈峰
IPC: G01N27/24
Abstract: 本实用新型公开了一种扫查式电容成像探头，包括探头盒形上壳体、探头柱形下壳体、套筒、螺纹圈、共面电容器和限位组件，所述探头柱形下壳体固定于探头盒形上壳体下，所述螺纹圈设于探头柱形下壳体顶端外侧壁上，所述套筒套接于探头柱形下壳体外，所述套筒和探头柱形下壳体之间螺纹连接，所述共面电容器安装在探头柱形下壳体下，所述限位组件设于探头柱形下壳体和探头盒形上壳体的连接处。本实用新型属于电容成像技术领域，具体是指一种通过限位组件对提离后的位置进行限位，增加稳定性的扫查式电容成像探头。
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