公开(公告)号：CN109214063A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201810915965.1

申请日：2018-08-13

申请人： 唐哲敏

发明人： 唐哲敏 ,  黄美发 ,  钟艳茹 ,  陈磊磊 ,  黄用华

IPC分类号： G06F17/50 ,  G01B21/24

摘要： 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种稳定、快速、简单的孔轴零件的双重最小实体要求的一种同轴度评定方法，可以评定基准是轴、被测要素是孔的情况。本发明包含以下步骤：步骤1，用待测零件的测点构造多个参数矩阵，来描述待测零件的几何误差；步骤1.1，决定分析基准轴还是被测孔；步骤1.2，融合基准轴和被测孔的参数矩阵；步骤2，加入一个关键点；步骤3，用关键点集构造分析矩阵；步骤4，对分析矩阵进行分析，决定是否继续寻优，并决定寻优策略；步骤5，计算寻优方向；步骤6，决定是否产生新的关键点，需要的话产生一个新的关键点，并更新部分参数矩阵；步骤7，计算并判断待测零件的基于双重最小实体原则的同轴度是否合格。

公开(公告)号：CN109063399A

公开(公告)日：2018-12-21

申请号：CN201811198162.5

申请日：2018-10-15

申请人： 唐哲敏

发明人： 唐哲敏 ,  黄美发 ,  钟艳茹 ,  陈磊磊 ,  黄用华

IPC分类号： G06F17/50 ,  G01B21/24

CPC分类号： G06F17/5086 ,  G01B21/24

摘要： 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种稳定、快速、简单的基于双重公差原则的同轴度评定方法，可以评定基准是孔、被测要素是轴的情况。本发明包含以下步骤：步骤1，用待测零件的测点构造多个参数矩阵，来描述待测零件的几何误差；步骤1.1，决定分析基准段还是被测段；步骤1.2，融合基准段和被测段的参数矩阵；步骤2，加入一个关键点；步骤3，用关键点集构造分析矩阵；步骤4，对分析矩阵进行分析，决定是否继续寻优，并决定寻优策略；步骤5，计算寻优方向；步骤6，决定是否产生新的关键点，需要的话产生一个新的关键点，并更新部分参数矩阵；步骤7，计算并判断待测零件的基于双重公差原则的同轴度是否合格。