超导绝缘材料局部放电发展过程的试验装置及试验方法

    公开(公告)号:CN105807189B

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201410838626.X

    申请日:2014-12-29

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供一种超导绝缘材料局部放电发展过程的试验装置及试验方法,设计了一种与标准电极连接的局部放电平台,其中标准电极用于连接超导复合绝缘试品的试验装置和在低温试验专用容器中加入液氮和氮气、将连接在局部放电平台两端的2个标准电极分别连接在超导复合绝缘试品的两端和依据试验方案进行局部放电发展过程的试验并在线记录试验结果的试验方法。和现有技术相比,本发明提供的试验装置和试验方法,满足了超导装置中低温绝缘材料的机理研究要求。该试验装置功能设计合理、该试验方法结构分布清晰准确,可以很好的实现低温复合绝缘材料在过冷液氮温区下中高电压等级的局部放电发展过程测试。

    超导绝缘材料局部放电发展过程的试验装置及试验方法

    公开(公告)号:CN105807189A

    公开(公告)日:2016-07-27

    申请号:CN201410838626.X

    申请日:2014-12-29

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供一种超导绝缘材料局部放电发展过程的试验装置及试验方法,设计了一种与标准电极连接的局部放电平台,其中标准电极用于连接超导复合绝缘试品的试验装置和在低温试验专用容器中加入液氮和氮气、将连接在局部放电平台两端的2个标准电极分别连接在超导复合绝缘试品的两端和依据试验方案进行局部放电发展过程的试验并在线记录试验结果的试验方法。和现有技术相比,本发明提供的试验装置和试验方法,满足了超导装置中低温绝缘材料的机理研究要求。该试验装置功能设计合理、该试验方法结构分布清晰准确,可以很好的实现低温复合绝缘材料在过冷液氮温区下中高电压等级的局部放电发展过程测试。

    光缆快速测试仪
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103884493A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201410087476.3

    申请日:2014-03-11

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种光缆快速测试仪,包括测试仪表和光纤对接器,其特征在于所述的光纤对接器包括底板,底板的长度方向中部设有一段V型槽,底板的长度方向的左部及右部设有线槽,左部及右部的线槽均与V型槽连通,底板上部设有左压盖、中压盖和右压盖。本发明的光纤对接器设计小巧、结构简单、操作灵活、便于携带。光纤对接器与OTDR配套使用,能够使光纤与尾纤临时耦合对接,无需熔接,与现有技术相比节省了光纤连接的时间,有效地提高了工作效率,降低了测试成本,并且设备损耗大幅降低,能够满足在不同场地进行光纤测试,特别适用于光缆到货验收、光缆故障抢修等。

    光缆快速测试仪
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103884493B

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201410087476.3

    申请日:2014-03-11

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种光缆快速测试仪,包括测试仪表和光纤对接器,其特征在于所述的光纤对接器包括底板,底板的长度方向中部设有一段V型槽,底板的长度方向的左部及右部设有线槽,左部及右部的线槽均与V型槽连通,底板上部设有左压盖、中压盖和右压盖。本发明的光纤对接器设计小巧、结构简单、操作灵活、便于携带。光纤对接器与OTDR配套使用,能够使光纤与尾纤临时耦合对接,无需熔接,与现有技术相比节省了光纤连接的时间,有效地提高了工作效率,降低了测试成本,并且设备损耗大幅降低,能够满足在不同场地进行光纤测试,特别适用于光缆到货验收、光缆故障抢修等。