绝缘子样品老化度检测方法

    公开(公告)号:CN103558241B

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201310531737.1

    申请日:2013-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子样品老化度检测方法,解决了现有的绝缘子老化度磁共振检测磁体的磁场均匀度不高的问题。包括选取12个体积相同的磁性材料相同的立方体形磁体子模块(1)进行充磁,使每个立方体形磁体子模块的充磁强度相同充磁方向相同;将12个立方体形磁体子模块等弧度间隔地均布在同一圆周上的,在12个立方体形磁体子模块均布的该同一圆周所在圆的圆心位置上设置检测线圈(15),对检测线圈中的信号进行检测分析,对绝缘子样品进行电磁激励,产生的磁共振感应衰减信号经前置放大器、混频器和模数转换器依次处理后;通过观察和分析谱图上每一根特征谱线的高度等参量,并与标准数据进行对照,实现对绝缘子老化度的判断。

    绝缘子样品老化度检测装置

    公开(公告)号:CN103558518A

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201310531739.0

    申请日:2013-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子样品老化度检测装置,解决了现有的绝缘子老化度磁共振检测磁体的磁场均匀度不高,以及杂散磁场对周围环境的影响的问题。包括选取12个体积相同的磁性材料相同的立方体形磁体子模块(1)进行充磁,使每个立方体形磁体子模块的充磁强度相同充磁方向相同;将12个立方体形磁体子模块等弧度间隔地均布在同一圆周上的,在12个立方体形磁体子模块均布的该同一圆周所在圆的圆心位置上设置检测线圈(15),对检测线圈中的信号进行检测分析,对绝缘子样品进行电磁激励,产生的磁共振感应衰减信号经前置放大器、混频器和模数转换器依次处理后;通过观察和分析谱图上每一根特征谱线的高度等参量,并与标准数据进行对照,实现对绝缘子老化度的判断。

    绝缘子样品老化度检测装置

    公开(公告)号:CN103558518B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201310531739.0

    申请日:2013-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子样品老化度检测装置,解决了现有的绝缘子老化度磁共振检测磁体的磁场均匀度不高,以及杂散磁场对周围环境的影响的问题。包括选取12个体积相同的磁性材料相同的立方体形磁体子模块(1)进行充磁,使每个立方体形磁体子模块的充磁强度相同充磁方向相同;将12个立方体形磁体子模块等弧度间隔地均布在同一圆周上的,在12个立方体形磁体子模块均布的该同一圆周所在圆的圆心位置上设置检测线圈(15),对检测线圈中的信号进行检测分析,对绝缘子样品进行电磁激励,产生的磁共振感应衰减信号经前置放大器、混频器和模数转换器依次处理后;通过观察和分析谱图上每一根特征谱线的高度等参量,并与标准数据进行对照,实现对绝缘子老化度的判断。

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