一种金相试样磨抛夹持装置及其套件

    公开(公告)号:CN105290965B

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201510828510.2

    申请日:2015-11-25

    IPC分类号: B24B41/06 G01N1/32

    摘要: 本发明提供了一种金相试样磨抛夹持装置及其套件,所述金相试样磨抛夹持装置(10)呈板状,所述金相试样磨抛夹持装置(10)含有中央区域(11),中央区域(11)的周围设有多个外凸部(12),每个外凸部(12)内均设有能够插入金相试样(40)的安装通孔(13),每个外凸部(12)还设有用于将金相试样(1)固定于安装通孔(13)的固定部件(14)。当需要进行磨样时,可将多个试样固定与本装置之上,再放置于磨抛设备进行无人自动磨抛,需要跟换砂纸时,停止磨抛设备,整体取下工装,更换砂纸,放置工装即可继续进行。此外该装置可以同时进行多个试样制作,大大提高了工作效率。

    超声波衍射时差法扫查架

    公开(公告)号:CN105301115B

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201510822499.9

    申请日:2015-11-24

    IPC分类号: G01N29/265

    摘要: 本发明提供了一种超声波衍射时差法扫查架,其包括:主架条和两探头架条,其中,主架条的两端分别设有第一扣合部;探头架条的一端设有第二扣合部,探头架条的另一端设有探头固定部;两探头架条的第二扣合部分别与主架条两端的第一扣合部紧扣配合。本发明提供的超声波衍射时差法扫查架,与现有技术使用的结构复杂、体积庞大并且沉重的扫查架相比,在满足了超声波衍射时差法检测的必要需求的前提下,使用了更少的零部件,从而具有结构简单、轻便、便于携带、使用方便等优点。

    一种TOFD-12dB扩散角测量工装及其套件

    公开(公告)号:CN105259259B

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201510828059.4

    申请日:2015-11-25

    IPC分类号: G01N29/30

    摘要: 本发明提供了一种TOFD‑12dB扩散角测量工装及其套件,该TOFD‑12dB扩散角测量工装包括第一夹板(1)、第二夹板(2)和连接板(3),第一夹板(1)、连接板(3)和第二夹板(2)依次连接形成凹字形,连接板(3)上背向第一夹板(1)和第二夹板(2)的表面含有用于插装超声波探头的第一安装孔(4),第一夹板(1)和第二夹板(2)能够夹持CSK‑IA试块。该TOFD‑12dB扩散角测量工装及其套件解决了TOFD测量‑12Db过程中,手工操作不稳定,结果误差大等诸多不足。在测量时,将超声波探头固定于本装置之上,可安全、平稳、快速地测量TOFD探头的‑12dB扩散角。

    一种TOFD-12dB扩散角测量工装及其套件

    公开(公告)号:CN105259259A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201510828059.4

    申请日:2015-11-25

    IPC分类号: G01N29/30

    摘要: 本发明提供了一种TOFD-12dB扩散角测量工装及其套件,该TOFD-12dB扩散角测量工装包括第一夹板(1)、第二夹板(2)和连接板(3),第一夹板(1)、连接板(3)和第二夹板(2)依次连接形成凹字形,连接板(3)上背向第一夹板(1)和第二夹板(2)的表面含有用于插装超声波探头的第一安装孔(4),第一夹板(1)和第二夹板(2)能够夹持CSK-IA试块。该TOFD-12dB扩散角测量工装及其套件解决了TOFD测量-12Db过程中,手工操作不稳定,结果误差大等诸多不足。在测量时,将超声波探头固定于本装置之上,可安全、平稳、快速地测量TOFD探头的-12dB扩散角。

    超声波衍射时差法扫查架

    公开(公告)号:CN105301115A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510822499.9

    申请日:2015-11-24

    IPC分类号: G01N29/265

    摘要: 本发明提供了一种超声波衍射时差法扫查架,其包括:主架条和两探头架条,其中,主架条的两端分别设有第一扣合部;探头架条的一端设有第二扣合部,探头架条的另一端设有探头固定部;两探头架条的第二扣合部分别与主架条两端的第一扣合部紧扣配合。本发明提供的超声波衍射时差法扫查架,与现有技术使用的结构复杂、体积庞大并且沉重的扫查架相比,在满足了超声波衍射时差法检测的必要需求的前提下,使用了更少的零部件,从而具有结构简单、轻便、便于携带、使用方便等优点。

    超声波衍射时差法扫查架
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205103219U

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201520943804.5

    申请日:2015-11-24

    IPC分类号: G01N29/265

    摘要: 本实用新型提供了一种超声波衍射时差法扫查架,其包括:主架条和两探头架条,其中,主架条的两端分别设有第一扣合部;探头架条的一端设有第二扣合部,探头架条的另一端设有探头固定部;两探头架条的第二扣合部分别与主架条两端的第一扣合部紧扣配合。本实用新型提供的超声波衍射时差法扫查架,与现有技术使用的结构复杂、体积庞大并且沉重的扫查架相比,在满足了超声波衍射时差法检测的必要需求的前提下,使用了更少的零部件,从而具有结构简单、轻便、便于携带、使用方便等优点。