一种GIS局部放电检定方法及系统

    公开(公告)号:CN103176113A

    公开(公告)日:2013-06-26

    申请号:CN201310113229.1

    申请日:2013-04-02

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种GIS局部放电检定方法及系统,该方法包括建立标定数据集,标定数据集中数据基于GIS内预设位置;测量GIS实际局部放电在所述预设位置的实际波形振荡上升时间及实际最大幅值;将实际波形振荡上升时间、实际最大幅值与标定数据集中数据进行比较、计算,获取放电部位和强度。本发明具体可通过在预设位置放置传感器准确地测量标定数据集及实际局部放电的数据,不需在每个GIS间隔上配置两个传感器、且避免了首波起始时刻读取误差大的缺陷;后期通过简单的比较、计算获取放电部位和强度,不受图谱库的局限,克服了现有UHF法中模式识别无法准确给出放电强度的弊端,综上本发明可准确有效地检测局部放电的放电部位和强度。

    一种GIS局部放电检定方法及系统

    公开(公告)号:CN103176113B

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201310113229.1

    申请日:2013-04-02

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种GIS局部放电检定方法及系统,该方法包括建立标定数据集,标定数据集中数据基于GIS内预设位置;测量GIS实际局部放电在所述预设位置的实际波形振荡上升时间及实际最大幅值;将实际波形振荡上升时间、实际最大幅值与标定数据集中数据进行比较、计算,获取放电部位和强度。本发明具体可通过在预设位置放置传感器准确地测量标定数据集及实际局部放电的数据,不需在每个GIS间隔上配置两个传感器、且避免了首波起始时刻读取误差大的缺陷;后期通过简单的比较、计算获取放电部位和强度,不受图谱库的局限,克服了现有UHF法中模式识别无法准确给出放电强度的弊端,综上本发明可准确有效地检测局部放电的放电部位和强度。

    基于交叉组合的自然积污绝缘子串外绝缘状态评估方法

    公开(公告)号:CN102608501B

    公开(公告)日:2014-06-04

    申请号:CN201210048112.5

    申请日:2012-02-28

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及一种基于交叉组合的自然积污绝缘子串外绝缘状态评估方法。目前,对于同一基铁塔上取到的带电绝缘子串,选取某相绝缘子进行污秽度测试及化学成分分析,其它相绝缘子进行污闪电压试验,在此基础上进行数据分析并不是十分准确。本发明的特征在于,对同一基铁塔上的自然积污绝缘子串,交叉组成一部分绝缘子用于表面等值盐密和灰密并进行化学成分分析,一部分用于污秽闪络电压试验,在此基础上,考虑盐类型、上下表面不均匀积污的影响,得到自然积污绝缘子串污闪电压与表面污秽度及化学成分之间的关系。本发明能够得到更为有效的自然积污绝缘子串污闪电压及绝缘子表面污秽度数据,并得到更为有效的污闪电压校正公式。

    考虑污秽折算系数的自然积污绝缘子污闪特性研究方法

    公开(公告)号:CN102707209B

    公开(公告)日:2014-07-30

    申请号:CN201210194253.8

    申请日:2012-06-13

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种考虑污秽折算系数的自然积污绝缘子污闪特性研究方法。通常采用的方法是,对于同一基铁塔上取到的带电绝缘子串,选取部分绝缘子进行污秽度测试,其余绝缘子进行污闪电压试验,在此基础上进行数据分析,这种方法存在一定的局限性。本发明的特征在于,将取自同一基铁塔的自然积污绝缘子分成两部分,一部分用于表面等值盐密和灰密测试分析,另一部分用于污闪试验;考虑到污闪过程中绝缘子表面部分污秽的流失,对污闪试验后绝缘子的污秽度测试数据进行修正,在此基础上,对污闪电压、等值盐密、整片灰密、上下表面等值盐密比数据进行回归分析。本发明能够更为有效的得到自然积污绝缘子串污闪电压与绝缘子表面污秽度之间的函数关系。

    考虑污秽折算系数的自然积污绝缘子污闪特性研究方法

    公开(公告)号:CN102707209A

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201210194253.8

    申请日:2012-06-13

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种考虑污秽折算系数的自然积污绝缘子污闪特性研究方法。通常采用的方法是,对于同一基铁塔上取到的带电绝缘子串,选取部分绝缘子进行污秽度测试,其余绝缘子进行污闪电压试验,在此基础上进行数据分析,这种方法存在一定的局限性。本发明的特征在于,将取自同一基铁塔的自然积污绝缘子分成两部分,一部分用于表面等值盐密和灰密测试分析,另一部分用于污闪试验;考虑到污闪过程中绝缘子表面部分污秽的流失,对污闪试验后绝缘子的污秽度测试数据进行修正,在此基础上,对污闪电压、等值盐密、整片灰密、上下表面等值盐密比数据进行回归分析。本发明能够更为有效的得到自然积污绝缘子串污闪电压与绝缘子表面污秽度之间的函数关系。