公开(公告)号：CN114660172A

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202111355029.8

申请日：2021-11-16

申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 ,  北京工业大学

发明人： 高东林 ,  张伦兆 ,  王慧园 ,  解东 ,  宋国荣 ,  吕炎

IPC分类号： G01N29/04 ,  G01N29/06

摘要： 本发明公开了一种针对复杂曲面工件缺陷的透射式超声波成像方法，属于无损检测领域。首先获取复杂曲面工件外形尺寸，对其进行检测路径规划，保证扫查过程中，探头与工件垂直；然后在工件进行超声检测，并接收超声脉冲透射回波信号，储存超声波激励时的工件扫查点位的坐标信息；将若干扫查点进行曲面拟合，构建成像曲面，将包含超声数据的透射波信号与曲面对应成像，得到三维C扫图像。本发明优化了复杂曲面缺陷的成像效果，避免了缺陷形状的扭曲与错位现象，将缺陷的坐标信息与超声扫查数据建立映射关系进行成像。

公开(公告)号：CN116242857A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202310082654.2

申请日：2023-02-08

申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 ,  国合通用测试评价认证股份公司

发明人： 高东林 ,  肖婷 ,  白万通 ,  张伦兆 ,  董海江 ,  聂新宇 ,  袁博

IPC分类号： G01N23/046 ,  G01N23/18

摘要： 本发明公开了属于无损检测技术领域，特别涉及一种微焦点工业CT检测用夹杂物参考试块及其检测方法。所述夹杂物参考试块包括试块基体和夹杂物；试块基体能够满足夹杂物承载条件，与夹杂物的材料存在明显的穿透能力差异；能够实现夹杂物的分散与固定；能够实现夹杂物的检出以及尺寸检测；夹杂物的材料为球形粉末状材料，能够通过显微镜测量得到夹杂物的实际尺寸。在微焦点工业CT检测过程中，使用该夹杂物参考试块，能够找到检测分辨力与检测尺寸间的关系，实现某一分辨力下检测对象中不同尺寸缺陷检出概率、检测精度的有效性评估，从而实现微米级夹杂物缺陷尺寸的正确测量及输出。