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公开(公告)号：CN113447506B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202010223968.6
申请日：2020-03-26
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 国合通用测试评价认证股份公司
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明涉及一种双相钛合金相比例的快速分析方法，属于XRD定量相分析技术领域。首先清洁样品；采用装备有二维探测器的便携式测量装置，将X射线入射线与样品表面夹角设为45°以上，工作距离调整到15～50mm；调整光斑位置至待测点，并在装置中键入工作距离；开启高压及射线窗口，测量并收集α相和β相德拜环；根据α相{hkl}和β相{nmp}德拜环的2θ角及晶面间距，分辨并指标化各德拜环；解析衍射数据，去除背景，将对应德拜环分别进行强度积分；计算出α和β的比例。本发明无需破坏，特别适用于大型工件，成品件的测量，可在一定程度上减弱织构和晶粒粗大对相含量计算的干扰。
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公开(公告)号：CN113447506A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202010223968.6
申请日：2020-03-26
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 国合通用测试评价认证股份公司
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明涉及一种双相钛合金相比例的快速分析方法，属于XRD定量相分析技术领域。首先清洁样品；采用装备有二维探测器的便携式测量装置，将X射线入射线与样品表面夹角设为45°以上，工作距离调整到15～50mm；调整光斑位置至待测点，并在装置中键入工作距离；开启高压及射线窗口，测量并收集α相和β相德拜环；根据α相{hkl}和β相{nmp}德拜环的2θ角及晶面间距，分辨并指标化各德拜环；解析衍射数据，去除背景，将对应德拜环分别进行强度积分；计算出α和β的比例。本发明无需破坏，特别适用于大型工件，成品件的测量，可在一定程度上减弱织构和晶粒粗大对相含量计算的干扰。
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公开(公告)号：CN111896432A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN202010537753.1
申请日：2020-06-12
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 国合通用测试评价认证股份公司
IPC分类号： G01N15/02 , G01N23/2055 , G01N23/207
摘要： 本发明公开了属于X射线衍射分析技术领域的一种铜及其合金晶粒尺寸的高通量检测方法。步骤包括：在未知晶粒尺寸的工件待测点上放置内孔尺寸为2mm的遮光孔或透光管；采用X射线衍射装置，测定待测点的德拜衍射斑图谱；当存在衍射斑点，德拜环不可见，晶粒尺寸＞1mm；德拜环可见，晶粒尺寸≤1mm。为进一步区分细小晶粒的粒径区间，依次缩小遮光孔尺寸再次测量，并根据德拜环的形态，快速判定晶粒的尺寸范围。本发明无需破坏工件，特别适用于甄别晶粒粗大的大型工件，真正实现高速高通量的在线原位大规模检测。
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公开(公告)号：CN111855337A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201910345110.4
申请日：2019-04-26
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
摘要： 本发明涉及一种制备高纯钌靶EBSD样品的方法，属于EBSD试样制备技术领域。将高纯钌靶线切割成待测试样，进行机械磨抛，清洁干净后再用二氧化硅悬浮液抛光20-30分钟，抛光速度逐渐减慢，最后用清水将试样抛光20-30秒；用中性洗涤剂清洁试样表面，并在水龙头下冲洗试样表面，直至样品表面充分清洗干净，最后吹风机冷风吹干。本发明操作简便，能够去除高纯钌靶的表面机械应力，同时不给样品表面带来污染及组织改变，获得真实高质量的测试样品。
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公开(公告)号：CN117968587A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410099204.9
申请日：2024-01-24
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01B15/00
摘要： 一种精确测量氧化石墨烯层间距的方法，是将一定比例的单晶硅粉(光谱纯)与氧化石墨烯粉末混合，对混合粉体进行X射线衍射分析，分别获得氧化石墨烯(002)衍射晶面衍射峰和硅(111)衍射晶面衍射峰，通过硅(111)衍射晶面衍射峰的校正值获得氧化石墨烯(002)衍射晶面衍射角2θCj，通过布拉格公式，即可获得氧化石墨烯层间距；该方法在氧化石墨烯晶体结构特点基础上，可提高测量结果准确性，真实反映氧化石墨烯层间距大小，为其应用提供科学依据和指导。
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公开(公告)号：CN105241694B
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201410281125.6
申请日：2014-06-20
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
摘要： 本发明属于金相分析测试技术领域的一种铅铋合金的金相制样方法。本发明的方法采用铅铋合金作为实验样品，采用线切割方法将试样切割成10mm×10mm×10mm大小的样品；然后将样品依次在120#、220#、500#、1000#、2400#SiC水砂纸上逐级研磨，每级应朝同一方向磨制，下一级将样品转动90°，直至将上一道划痕去除；将研磨后的样品放入装有高氯酸和冰醋酸混合溶液的电解液的电解槽内进行电解；将电解后的样品直接在显微镜下观察。本发明方法操作简单、方便；获得的样品变形层完全去除，可得到真实的显微组织；试验样品经电解后直接出来组织，无需再腐蚀。
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公开(公告)号：CN112525936A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201910886927.2
申请日：2019-09-19
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 有研工程技术研究院有限公司
IPC分类号： G01N23/2005 , G01N23/207
摘要： 本发明涉及一种硬质合金中钴相XRD分析用样品的制备方法，属于XRD样品制备技术领域。切取硬质合金的待测样品，依次采用由粗到细的4道砂纸对待测面进行磨光处理，每道砂纸磨至样品表面划痕均匀且处于一个方向时，更换下一道砂纸，同时，将试样旋转90°，继续打磨；最后用无水乙醇清洗；将磨好的样品连接电源正极，铜板连接负极，置于电解液中进行电解，电解液包括氢氧化钠、酒石酸钠、柠檬酸钠、高氯酸和去离子水等；将样品取出，依次用稀盐酸和去离子超声清洗。本发明采用选择性电解侵蚀，去除WC相，保留Co相，可以很好地对Co的晶体结构进行解析，同时本方法操作简便。
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公开(公告)号：CN118032473A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410203460.8
申请日：2024-02-23
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N1/36 , G01N1/32 , G01N1/28 , G01N21/84 , G01N23/2251 , G01N23/2202
摘要： 本发明公开了一种氧化锆陶瓷材料的金相试样制备及组织显示方法，属于金相分析测试技术领域。本发明采用环氧树脂混合液对样品进行冷镶，并将镶嵌试样在不同粒度的碳化硅水砂纸上由粗到细依次磨制；对磨制好的试样采用2.5μm、1.0μm的金刚石抛光剂进行抛光；采用氢氟酸+氟化氢铵+双氧水混合溶液对抛光好的试样进行化学腐蚀，清洗、吹干试样并置于显微镜下分析。本发明腐蚀方法简便高效、复现性好、经济实用；本发明能够获得衬度良好、组织显示清晰、晶粒轮廓明显的氧化锆陶瓷显微组织图片，便于开展氧化锆陶瓷材料的微观组织均匀性分析、晶粒度评定以及孔洞、微裂纹等缺陷检测工作，有效解决了氧化锆陶瓷材料的微观组织表征技术难题。
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公开(公告)号：CN117387817A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311381475.5
申请日：2023-10-24
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
摘要： 一种颗粒增强金属基复合材料残余应力的原位测试方法，所述颗粒增强金属基复合材料由颗粒增强相、金属基体及其界面组成，其高低温环境的测试为‑196℃～1200℃，环境气氛为真空、空气或惰性气体；具体包括步骤：1、利用X射线衍射仪测试并收集衍射数据；2、分析软件获得颗粒增强金属基复合材料的相组成，利用K值法获得颗粒增强相和金属基体相的质量分数，并利用数据库所述密度获得颗粒增强相和金属基体相的的体积百分比；3、采用X射线衍射残余应力测试法分别测定颗粒增强相和金属基体相不同衍射晶面的应力值；4、通过各主相的体积百分数及各相的应力值，经计算获得材料的总的残余应力值；该方法实现了对颗粒增强金属基复合材料残余应力的科学精确测量。
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公开(公告)号：CN211227428U
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201921552430.9
申请日：2019-09-18
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： C25F7/00
摘要： 本实用新型涉及一种金属材料电解剥层装置，属于残余应力测量用样品制备方法和装置领域。该装置包括电解套筒、圆片形电极、铁架台、夹具、冷却水槽、水泵和直流稳压电源，套筒内装填吸水性材料，圆片形电极上设置孔洞，放置在套筒内吸水性材料的上面；套筒的内、外筒之间为中空夹层，夹层中缠绕PE软管，PE软管与水泵和冷却水槽连接；套筒底部装有胶圈，电解套筒通过铁架台和夹具紧密压实在工件上；圆片形电极作为负极，与直流稳压电源的负极连接，待电解剥层的工件作为正极，与直流稳压电源的正极连接。本实用新型装置简单，成本低，操作简单，实用性强，可以同时有效的避免漏液以及电解温度升高。
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