超声相控阵腐蚀检测用试块
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116735703A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202210195853.X

    申请日:2022-03-01

    IPC分类号: G01N29/04 G01N29/30

    摘要: 本发明提供一种超声相控阵腐蚀检测用试块,包括:检测板;检测球孔,所述检测球孔包括设置于检测板表面的球槽;检测槽,所述检测槽包括设置于检测板表面的线槽;检测纹路,所述检测纹路包括蚀刻于检测板表面的检测图案;本发明的超声相控阵腐蚀检测用试块通过在不同深度错开布置检测球孔、检测槽以及检测纹路以验证超声波相控阵技术在腐蚀检测应用中对不同大小、深度的腐蚀坑和不同长度、宽度和深度的腐蚀裂纹缺陷的检出能力和检出极限,进而解决了现有技术中检验试块无法模拟复杂场景下的多种大小、深度的腐蚀坑和多种长度、宽度和深度的腐蚀裂纹缺陷的问题。

    一种用于管道检测的超声探头装置

    公开(公告)号:CN112179984A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN201910593393.4

    申请日:2019-07-03

    摘要: 本发明提供了一种用于管道检测的超声探头装置,包括:导管,内部设有电缆线和供水管,所述电缆线和供水管的一端延伸至所述管道外部;第一探头组件,包括与所述导管相连通的夹持装置,以及设置在所述夹持装置上的线阵相控阵探头,所述线阵相控阵探头包括多个第一类晶片,所有所述第一类晶片沿直线排布在所述夹持装置上;第二探头组件,包括套设在所述导管上的相控阵探头,所述相控阵探头包括分为两组的多个第二类晶片,两组第二类晶片形成的锥面互相对称,且底部相抵接。本发明的有益之处在于:通过设置第一探头组件和第二探头组件,利用不同的晶片排布方式实现对管道的轴向、周向缺陷和壁厚减薄变化的检测,缺陷检出率高。

    一种双轴扫查装置
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN216771597U

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202122816655.4

    申请日:2021-11-17

    IPC分类号: G01N29/04 G01N29/265

    摘要: 本实用新型公开了无损检测技术领域的一种双轴扫查装置,包括扫查轴,扫查轴用于与待检测工件连接固定;第一编码器,第一编码器设置于扫查轴上,并与待检测工件可相对移动;步进轴,步进轴垂直扫查轴设置,并与第一编码器连接;第二编码器,第二编码器可轴向移动的设置于步进轴上;探头架,探头架设置于所述第二编码器上,用于固定超声相控阵探头。本实用新型通过第一编码器的移动带动步进轴在待检测工件上移动,通过第二编码器的移动带动探头架在待检测工件上移动,实现对待检测工件的全面扫查;通过第一编码器和第二编码器对超声相控阵探头的位置进行检测,实现对待检测工件缺陷位置的精确定位。