一种晶闸管深度性能测试装置的操作方法

    公开(公告)号:CN117706313B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202311608822.3

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种晶闸管深度性能测试装置的操作方法,涉及半导体开发技术领域,针对目前在晶闸管性能检测时使用的测试装置,晶闸管安装固定不稳定,不易取放,且手持触碰引脚的触发方式,其检测效率过低,同时多次接触易造成引脚结构破坏的问题,现提出如下方案,所述测试装置包括测试装置主体,所述测试装置主体上设置有盖板,用于测试装置主体的防尘处理,所述测试装置主体上设置有条灯,用于电流运行时的观察使用,所述测试装置主体上设置有万能表,用于晶闸管各引脚电极的类别分析,所述测试装置主体上设置有放置仓,用于晶闸管测试时的结构放置,所述测试装置主体上设置有滑块,用于电流的流向控制,所述各结构相互配合,使用效果显著提升。

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