开关柜局部放电缺陷识别方法、系统、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117420393A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311142475.X

    申请日:2023-09-05

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及一种开关柜局部放电缺陷识别方法、系统、设备及存储介质,方法包括:步骤S1、将局部放电测量装置并联至高压开关柜内带电指示器的核相孔上,搭建局部放电测量电路,采集开关柜局部放电脉冲电流信号;步骤S2、基于设定缺陷类型特征统计参数,对开关柜局部放电脉冲电流信号进行缺陷识别。与现有技术相比,本发明的基于带电指示器核相孔检测脉冲电流的开关柜局部放电缺陷识别方法,能极大提升在运开关柜运行状态的诊断效率,且无需使用昂贵的传感器,仅通过从开关柜配置的带电指示器核相孔处取得信号,大大节约了装置成本。

    一种局部放电检测中白噪声的去噪方法及系统

    公开(公告)号:CN117171510A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202310699342.6

    申请日:2023-06-14

    摘要: 本发明涉及一种局部放电检测中白噪声的去噪方法及系统,包括以下步骤:S1、获取局部放电原始信号,对原始信号进行小波分解,得到近似系数和细节系数;S2、对细节系数进行基于稀疏表示的降噪处理,得到去噪后的细节系数;S3、将近似系数和去噪后的细节系数代入PCA降噪算法中,进行降维处理;S4、通过小波反变换将降维后的数据还原成局部放电信号,得到去噪后的局部放电信号。与现有技术相比,本发明基于小波分解法、基于稀疏表示的降噪处理法、主成分分析法,结合三种算法,对局部放电检测过程中夹杂的白噪声进行去噪,以便于后续的局部放电模式识别和严重程度评估。