公开(公告)号：CN118040530A

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN202311845490.0

申请日：2023-12-28

申请人： 国网上海市电力公司 ,  清华大学

发明人： 李腾飞 ,  王晓村 ,  张文辉 ,  高凯 ,  王黎明 ,  康丽 ,  李传扬 ,  范贤浩 ,  罗汉华 ,  庄伟建

IPC分类号： H02G1/00 ,  G06F30/20 ,  G06F30/18

摘要： 本发明公开了一种适用于直流GIL的竖直挡板型提上式微粒陷阱，包括金属筒壳。所述金属筒壳用于与直流GIL不接触地安装在所述直流GIL内且靠近绝缘子；所述金属筒壳的下半侧部上设有沿周向和轴向间隔的多个陷阱孔，每个所述陷阱孔靠近所述绝缘子的一侧设有竖直挡板，所述竖直挡板位于所述金属筒壳内。本发明可以保证直流GIL长期稳定运行，避免金属微粒运动到绝缘子附近。

公开(公告)号：CN117991053A

公开(公告)日：2024-05-07

申请号：CN202311845520.8

申请日：2023-12-28

申请人： 国网上海市电力公司 ,  清华大学

发明人： 李腾飞 ,  王晓村 ,  张文辉 ,  高凯 ,  王黎明 ,  康丽 ,  李传扬 ,  范贤浩 ,  罗汉华 ,  庄伟建

IPC分类号： G01R31/12

摘要： 本申请涉及高压直流输电设备运行维护技术领域，特别涉及一种金属微粒诱导击穿闪络试验平台、评估方法及存储介质，其中，包括：激励源；气密装置的本体上设置有观察窗，气密装置内设置有直流气体绝缘输电管道GIL模型，GIL模型内布置有高压导体和金属微粒，激励源与气密装置的高压端相连，高压端与高压导体相连；采集件，用于通过观察窗采集金属微粒造成的闪络与击穿电压信息；计算机，用于根据试验任务控制激励源对GIL模型施加激励，并提取金属微粒造成的闪络与击穿电压信息的特征数值，根据特征数值对GIL模型内金属微粒进行危害性评估得到评估结果。由此，解决了相关技术中无法有效评估GIL中金属微粒的微粒危害性等问题。

公开(公告)号：CN118566655A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410491190.5

申请日：2024-04-23

申请人： 清华大学

发明人： 李传扬 ,  范贤浩 ,  罗汉华 ,  梁芳蔚 ,  何金良

IPC分类号： G01R31/12 ,  G01J11/00 ,  G01J9/00

摘要： 本发明涉及特高压直流输电设备状态评估、绝缘微缺陷检测技术领域，特别涉及一种GIS/GIL微缺陷离线检测方法及装置，其中，方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并将测试交流电的电压作为触发源触发待测绝缘件试样，以诱发待测绝缘件试样的电致发光信息；基于电致发光信息，利用光子计算探头测量预设时间段内待测绝缘件试样的光子计数数据；根据光子计数数据判断待测绝缘件试样是否存在缺陷。由此，解决了传统的GIS/GIL缺陷检测方法多以局放相关技术实现，受现场电磁、震动噪声干扰且不能识别内部达不到放电条件，难以满足GIS/GIL缺陷高精度检测的要求等问题。

公开(公告)号：CN118566654A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410484367.9

申请日：2024-04-22

申请人： 清华大学

发明人： 何金良 ,  李传扬 ,  范贤浩 ,  梁芳蔚 ,  罗汉华

IPC分类号： G01R31/12

摘要： 本申请提出用于缺陷检测的电致发光光子计数相位解析方法及系统，所述方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发绝缘件试样，以诱发所述绝缘件试样产生电致发光信息；基于所述电致发光信息并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述绝缘件试样的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述绝缘件试样的光子计数数据确定所述绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰并能识别内部缺陷放电发展早期劣化信息，进而可以精确的提取出绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱，进而促进特高压直流输电设备缺陷早期预警及微缺陷检测研究水平。

公开(公告)号：CN117949790A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202410222829.X

申请日：2024-02-28

申请人： 清华大学

发明人： 何金良 ,  李传扬 ,  刘向东 ,  范贤浩 ,  罗汉华

IPC分类号： G01R31/12

摘要： 本申请涉及高压输电设备状态评估技术领域，特别涉及一种基于光子计数的绝缘拉杆微缺陷检测装置及方法，装置包括：绝缘拉杆耐压夹具、电源供给组件、检测组件和处理组件，其中，电源供给组件用于提供满足预设电压强度的运行电场；检测组件用于检测待测GIS绝缘拉杆电致发光阶段输出的光脉冲；处理组件用于分析预设积分时间内光脉冲的输出个数，并在满足预设稳态条件时，控制绝缘拉杆耐压夹具带动待测GIS绝缘拉杆旋转，根据不同角度光脉冲的输出个数确定缺陷角度，控制检测组件移动对待测GIS绝缘拉杆进行微缺陷定位。由此，解决了灯光试验费时费力、工频耐压测试及局部放电测试难以检测微缺陷且过程繁琐的问题。

公开(公告)号：CN118566653A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410484366.4

申请日：2024-04-22

申请人： 清华大学

发明人： 李传扬 ,  范贤浩 ,  罗汉华 ,  梁芳蔚 ,  何金良

IPC分类号： G01R31/12

摘要： 本申请提出基于相位解析光子计数的GIS/GIL微缺陷在线监测方法及系统，所述方法包括：对带电运行的GIS/GIL包含绝缘件的分段施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发分段内绝缘件，以诱发所述分段内绝缘件产生电致发光信息；根据所述电致发光信息，并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述分段内绝缘件的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述分段内绝缘件的光子计数数据判断所述分段内绝缘件是否存在缺陷。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰且能识别内部达不到放电条件的微缺陷，对于特高压直流输电设备缺陷早期预警、降低故障概率、提升运行安全性具有重大意义。