基于磁阻效应的微直流非接触检测探头和测量系统

    公开(公告)号:CN113295920A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110609480.1

    申请日:2021-06-01

    IPC分类号: G01R19/25 G01R15/20 G01R1/18

    摘要: 本发明涉及微直流检测技术领域,是一种基于磁阻效应的微直流非接触检测探头和测量系统,其前者包括内部传感元件、测量磁场引导层和外屏蔽层,外屏蔽层呈筒状结构,测量磁场引导层同轴套装在外屏蔽层内侧,测量磁场引导层上设有至少一个缺口,内部传感元件位于测量磁场引导层的缺口处置处,内部传感元件与测量磁场引导层组合构成圆筒形状。本发明通过将待测导线穿过内磁场层的内侧,第一磁阻元件、第二磁阻元件、第三磁阻元件均对待测导线的微直流电流进行检测,替换原有的待测线路,实现不接触测量,避免了对待测电流电路的干扰,方便简单,无需串联到原有的线路中,因此测量电路的工作状态不影响原待测电路的运行,测量稳定。

    基于磁阻效应的微直流非接触检测探头和测量系统

    公开(公告)号:CN113295920B

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202110609480.1

    申请日:2021-06-01

    IPC分类号: G01R19/25 G01R15/20 G01R1/18

    摘要: 本发明涉及微直流检测技术领域,是一种基于磁阻效应的微直流非接触检测探头和测量系统,其前者包括内部传感元件、测量磁场引导层和外屏蔽层,外屏蔽层呈筒状结构,测量磁场引导层同轴套装在外屏蔽层内侧,测量磁场引导层上设有至少一个缺口,内部传感元件位于测量磁场引导层的缺口处置处,内部传感元件与测量磁场引导层组合构成圆筒形状。本发明通过将待测导线穿过内磁场层的内侧,第一磁阻元件、第二磁阻元件、第三磁阻元件均对待测导线的微直流电流进行检测,替换原有的待测线路,实现不接触测量,避免了对待测电流电路的干扰,方便简单,无需串联到原有的线路中,因此测量电路的工作状态不影响原待测电路的运行,测量稳定。