一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置

    公开(公告)号:CN119846339A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202411779076.9

    申请日:2024-12-05

    Abstract: 本发明公开了一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置,包括第一接地电极板、绝缘支架、若干测试电极、第二接地电极板和若干接触端子;所述第一接地电极板和所述第二接地电极板均接地;所述接触端子导电设置;所述绝缘支架设置在第一接地电极板上;所述测试电极竖直插设在所述绝缘支架上并且其底部抵靠住放置于所述第一接地电极板上的酥朽芯棒短样;所述绝缘支架使得所述测试电极之间绝缘;所述第二接地电极板上成型有若干连接通孔;所述接触端子与所述连接通孔一一对应并且可拆连接于所述连接通孔;所述接触端子与所述测试电极一一对应并且与所述测试电极的上端抵靠。本发明可以实现酥朽芯棒短样表面不同区域电气性能的快速测试。

    一种芯棒性能测试装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119375620A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411299224.7

    申请日:2024-09-18

    Abstract: 本发明公开一种芯棒性能测试装置,属于高电压绝缘技术领域,解决了无法准确地测量酥朽芯棒局部电气性能的问题,解决该问题的技术方案主要是一种芯棒性能测试装置,包括绝缘台,所述绝缘台上固定有绝缘架,所述绝缘架包括位于绝缘台上方的绝缘盘,所述绝缘盘上连接有向着绝缘台延伸的高压电极,所述绝缘台上表面设有屏蔽片,所述屏蔽片上放置有芯棒,所述高压电极抵接在芯棒的上表面,所述绝缘台下方连接有贯穿绝缘台并穿过屏蔽孔的测试电极,所述测试电极的端部抵接至芯棒下表面,所述测试电极与高压电极在同一轴线上且二者的直径均小于芯棒的直径。本发明主要用于解决无法准确地测量酥朽芯棒局部电气性能的问题。

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