一种消除微流控芯片弯管效应的方法和装置

    公开(公告)号:CN115739220A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211494603.2

    申请日:2022-11-25

    Abstract: 本发明公开了一种消除微流控芯片弯管效应的方法和装置,包括:获取微纳弯管的结构参数,构建有限元模型;获取流体的物性参数,输入至有限元模型进行仿真计算,得到微纳弯管的上下壁面速度积分差值绝对值作为优化目标,并确认优化函数;确定优化变量的范围,基于有限元模型对优化函数进行优化,得到优化变量的最优解。通过针对电渗流弯管效应构建有限元模型,对优化目标进行优化,在确定优化函数和优化变量的条件下,快速实现对优化目标的优化,使得待检测样品流经微纳弯管的弯曲部时产生的速度梯度小,抑制了待检测样品在弯曲部出现的拉伸变形,减弱了电渗流过程中产生的弯管效应,有效提高了微流控芯片电泳分离效果。

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