一种模拟缺陷的方法及装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115798282A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211376184.2

    申请日:2022-11-04

    IPC分类号: G09B9/00 G05D23/20

    摘要: 本申请公开了一种模拟缺陷的方法及装置,采用接收加热指令,加热指令携带第一目标温度,加热第一发热元件,使得第一加热元件的温度达到第一目标温度,并使第一设备的第一位置的温度达到第一目标温度,第一发热元件与第一设备的第一位置相接触,第一设备为待模拟发热缺陷的设备,第一位置为第一设备的待模拟发热位置,保持第一加热元件的温度为第一目标温度的方法,通过第一发热元件与第一设备的第一位置相接触,加热第一发热元件,从而使第一设备的第一位置的温度模拟发热缺陷时的温度,从而达到模拟变电设备发热缺陷,以供运检人员进行红外精确测温练习的效果。