一种VSG孤岛检测方法、装置、系统及介质

    公开(公告)号:CN117937417A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311456274.7

    申请日:2023-11-02

    摘要: 本发明公开了一种VSG孤岛检测方法、装置、系统及介质,该方法包括:构造d轴与ABC坐标系的A轴重合的dq坐标系;将逆变器输出电压信号经过Park变换至所构造的dq坐标系下,计算电压相量U的相位并在所构造的dq坐标系中计算出电压相位变化率Δθ;若电压相位变化率Δθ大于设定的电压相位变化率门槛值Δθth,且所持续的时间Δth超过时间门槛Δtth,则判断为孤岛。同时在VSG有功环加入角速度误差负反馈,当实际频率偏离额定值时,该误差负反馈会增大偏离值。相比于传统过\欠频(OUF)孤岛检测方法的频率死区从[49.5,50.5]Hz降低为(49.9,50.1)Hz,同时该方法不会影响电能质量。