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公开(公告)号:CN1234114A
公开(公告)日:1999-11-03
申请号:CN97197924.3
申请日:1997-08-12
申请人: 图像研究公司
IPC分类号: G01N21/64
CPC分类号: G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N21/76 , G02B13/14 , G02B13/22 , G02B21/084 , G06T7/75 , G06T2207/10056 , G06T2207/30072
摘要: 本发明披露了一种电子成像系统,用于评定矩阵中的比色的荧光或亮度信号的强度,所述矩阵由井,微井,在膜上、凝胶上或其它样品上的杂交斑点。该系统包括非常灵敏的面积CCD检测器(18),具有外部照明(44)的高速远心透镜(22),反射/透射照明系统,照明波长选择装置(34),和光密封分室(24)。使用计算机和图像分析软件控制硬件,校正和校准图像,并检测和量化图像内的靶。
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公开(公告)号:CN1410744A
公开(公告)日:2003-04-16
申请号:CN02127748.6
申请日:1997-08-12
申请人: 图像研究公司
IPC分类号: G01J3/28 , G01N21/64 , G01N33/543
CPC分类号: G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N21/76 , G02B13/14 , G02B13/22 , G02B21/084 , G06T7/75 , G06T2207/10056 , G06T2207/30072
摘要: 本发明披露了一种电子成像系统,用于评定矩阵中的比色的荧光或亮度信号的强度,所述矩阵由井,微井,在膜上、凝胶上或其它样品上的杂交斑点。该系统包括非常灵敏的面积CCD检测器(18),具有外部照明(44)的高速远心透镜(22),反射/透射照明系统,照明波长选择装置(34),和光密封分室(24)。使用计算机和图像分析软件控制硬件,校正和校准图像,并检测和量化图像内的靶。
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