公开(公告)号：CN101454689A

公开(公告)日：2009-06-10

申请号：CN200780004730.7

申请日：2007-02-08

Applicant: 埃朗根-纽伦堡弗里德里克-亚历山大大学

Inventor： T·米切尔 ,  A·科恩 ,  G·安顿 ,  D·尼德洛纳 ,  M·博尼尔 ,  M·弗欣格 ,  J·多尔斯特

IPC: G01T1/02 ,  G01T1/164 ,  G01T1/36

Abstract: 本发明涉及一种用于确定一种或多种辐射特性的设备和方法，采用了包括一个或多个检测器单元的传感器，所述一个或多个检测器单元能够计数撞击到所述传感器上的、在预定能量范围内或预定能量范围之上的所述辐射的光子数或带电粒子数。

公开(公告)号：CN101454689B

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN200780004730.7

申请日：2007-02-08

Applicant: 埃朗根-纽伦堡弗里德里克-亚历山大大学

Inventor： T·米切尔 ,  A·科恩 ,  G·安顿 ,  D·尼德洛纳 ,  M·博尼尔 ,  M·弗欣格 ,  J·多尔斯特

IPC: G01T1/02 ,  G01T1/164 ,  G01T1/36

Abstract: 本发明涉及一种用于确定一种或多种辐射特性的设备和方法，采用了包括一个或多个检测器单元的传感器，所述一个或多个检测器单元能够计数撞击到所述传感器上的、在预定能量范围内或预定能量范围之上的所述辐射的光子数或带电粒子数。