公开(公告)号：CN108291867B

公开(公告)日：2021-07-16

申请号：CN201680050804.X

申请日：2016-06-28

Applicant: 堀场仪器株式会社

Inventor： 贾恩·J·塔塔科维兹 ,  里克·库珀

IPC: G01N21/03

Abstract: 一种具有以下特征的专用试管组件，该特征产生较小的且受限制的容积以使液体的块运动最小化并且使光的反向散射最小化。该专用试管组件能够在其放置在合适的光学装置中时记录液体中纳米颗粒的布朗运动，其中，该光学装置包括光片和光学显微镜，该光学显微镜附接到与光片平面垂直地定向的摄像机。

公开(公告)号：CN108369169B

公开(公告)日：2021-10-26

申请号：CN201680060558.6

申请日：2016-10-13

Applicant: 堀场仪器株式会社

Inventor： 贾恩·J·塔塔科维兹 ,  莫内特·卡尔

IPC: G01N15/02

Abstract: 公开了一种用于确定胶体颗粒的生长/溶解速率的系统，所述系统包括多个光源和多个传感器。光源被构造成在容纳所述胶体颗粒的样本室处发射电磁辐射束。所述样本室允许组合射束的一部分垂直或以某个其它角度向所述组合射束散射。所述射束的所述散射部分被引导至检测电磁辐射的传感器。所述传感器连接到激活所述光源并从所述传感器获取图像的处理器。以一定时间间隔拍摄多张图像，并对于拍摄的每一张图像，计算总图像强度级别，并进行归一化。然后，计算随时间拟合归一化值的公式，并根据所述公式来确定斜率。

公开(公告)号：CN109642824B

公开(公告)日：2021-08-06

申请号：CN201780052099.1

申请日：2017-06-28

Applicant: 堀场仪器株式会社

Inventor： 贾恩·J·塔塔科维兹

IPC: G01J3/42 ,  G01N15/00 ,  G01N15/02 ,  G01N31/00

Abstract: 公开了一种用于校准暗场显微技术设置的方法。该方法包括：制备多个颗粒样本，每个颗粒样本具有已知的浓度和颗粒大小，该多个颗粒样本具有一种以上颗粒大小并且可选地具有一个以上折射率和一种以上稀释液。针对多个颗粒样本中的每个样本，在设置中测量该样本并且测量散射光强度和颗粒数目。根据该数据，可以确定散射光强度、颗粒大小、和校准调查体积之间的关系。使用校准调查体积来获取给定稀释液中的适当颗粒大小分布。