公开(公告)号：CN113658056B

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202110792583.6

申请日：2021-07-14

Applicant: 复旦大学

Inventor： 马炯 ,  巩星宇 ,  王保举 ,  糜岚 ,  费义艳 ,  周黎 ,  姚龙芳 ,  张丽 ,  陈丽雯

IPC: G06T5/70 ,  G06T5/80 ,  G06T5/90 ,  G06T3/4053

Abstract: 本发明公开了一种基于图像梯度方差分析的序列图像超分辨修正方法。本发明用于处理光学显微镜拍摄的荧光序列图像，图像的灰度值分布反映了荧光信号强度的分布，其随时间变化记录了时序波动特征。本发明首先分析序列图像两种信息：其一为，针对荧光强度分布，分析每个像素点自身荧光强度随时间变化的方差；其二为，计算荧光强度梯度场，并分析每个像素点的荧光强度梯度随时间变化的方差，然后用两种方差定义权重函数，对原始序列图像进行加权修正。最后对修正后图像序列进行SRRF分析，得到背景噪声小，伪影减弱，分辨能力增强的超分辨样品荧光图像。本方法适用性广泛，可以用于普通宽场、共聚焦成像，结构光照明成像等。

公开(公告)号：CN113658056A

公开(公告)日：2021-11-16

申请号：CN202110792583.6

申请日：2021-07-14

Applicant: 复旦大学

Inventor： 马炯 ,  巩星宇 ,  王保举 ,  糜岚 ,  费义艳 ,  周黎 ,  姚龙芳 ,  张丽 ,  陈丽雯

IPC: G06T5/00 ,  G06T3/40

Abstract: 本发明公开了一种基于图像梯度方差分析的序列图像超分辨修正方法。本发明用于处理光学显微镜拍摄的荧光序列图像，图像的灰度值分布反映了荧光信号强度的分布，其随时间变化记录了时序波动特征。本发明首先分析序列图像两种信息：其一为，针对荧光强度分布，分析每个像素点自身荧光强度随时间变化的方差；其二为，计算荧光强度梯度场，并分析每个像素点的荧光强度梯度随时间变化的方差，然后用两种方差定义权重函数，对原始序列图像进行加权修正。最后对修正后图像序列进行SRRF分析，得到背景噪声小，伪影减弱，分辨能力增强的超分辨样品荧光图像。本方法适用性广泛，可以用于普通宽场、共聚焦成像，结构光照明成像等。