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公开(公告)号:CN102117796A
公开(公告)日:2011-07-06
申请号:CN201110030627.8
申请日:2011-01-28
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L23/532 , H01L21/768 , C22C27/04 , C22C19/07
Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种集成电路铜互连结构及其制备方法。本发明利用CoxMoy合金层作为Cu扩散阻挡层/粘附层/籽晶层,x、y的取值范围为0.1-0.9,x和y之和为1。制备步骤为:在衬底上直接用PVD,CVD或者ALD技术淀积一层CoxMoy合金,然后沉积Cu籽晶层或直接电镀铜,得到铜互连结构。调节Co、Mo配比可获得较佳的Cu扩散阻挡性能和粘附性能。本发明利用Co、Mo合金做扩散阻挡层,粘附层和电镀籽晶层,不仅提高了Cu阻挡和粘附性能,并保证其在集成电路铜互连应用中的可靠性。所用方法简单、方便、实用性强。
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