一种测试系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114124249B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202010879651.8

    申请日:2020-08-27

    IPC分类号: H04B17/10

    摘要: 本申请公开了一种测试系统,该测试系统用于测试滤波器指标,滤波器包括多个发射端口,该测试系统至少包括:处理器、分别与处理器连接的第一测试设备、第二测试设备以及自动换线机;自动换线机将第一测试设备连接至多个发射端口中的一个发射端口,第一测试设备用于依次测试发射端口的第一指标;自动换线机同时将第二测试设备连接至多个发射端口中的另一个发射端口,第二测试设备用于依次测试发射端口的第二指标。因此,本申请提供的测试系统能够同时测试滤波器不同发射端口不同指标,提高测试效率。

    一种测试系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114124249A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202010879651.8

    申请日:2020-08-27

    IPC分类号: H04B17/10

    摘要: 本申请公开了一种测试系统,该测试系统用于测试滤波器指标,滤波器包括多个发射端口,该测试系统至少包括:处理器、分别与处理器连接的第一测试设备、第二测试设备以及自动换线机;自动换线机将第一测试设备连接至多个发射端口中的一个发射端口,第一测试设备用于依次测试发射端口的第一指标;自动换线机同时将第二测试设备连接至多个发射端口中的另一个发射端口,第二测试设备用于依次测试发射端口的第二指标。因此,本申请提供的测试系统能够同时测试滤波器不同发射端口不同指标,提高测试效率。