分光分析装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112601482B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN201880096585.8

    申请日:2018-09-28

    IPC分类号: A61B1/00 A61B10/00 G01M11/00

    摘要: 分光分析装置(1)具有:光学探针(2);以及分光分析部(3),该光学探针(2)通过连接器(6)可装卸地安装于该分光分析部(3),光学探针(2)具有:光纤(4),其引导来自光源(10)的照明光和来自观察对象的信号光;以及光学部件(7),其配置在光纤(4)的至少前端,分光分析部(3)对信号光进行分光而生成波长特性,并且具有:信息分离部(14),其从信号光的信息中分离出从光学部件(7)返回的第1返回光和从光纤(4)返回的第2返回光的信息;不良情况判定部(14),其根据分离出的第1返回光和第2返回光,判定在光学探针(2)中产生的不良情况;以及通知部(15),其通知判定出的不良情况的信息。

    分光分析装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112601482A

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201880096585.8

    申请日:2018-09-28

    IPC分类号: A61B1/00 A61B10/00 G01M11/00

    摘要: 分光分析装置(1)具有:光学探针(2);以及分光分析部(3),该光学探针(2)通过连接器(6)可装卸地安装于该分光分析部(3),光学探针(2)具有:光纤(4),其引导来自光源(10)的照明光和来自观察对象的信号光;以及光学部件(7),其配置在光纤(4)的至少前端,分光分析部(3)对信号光进行分光而生成波长特性,并且具有:信息分离部(14),其从信号光的信息中分离出从光学部件(7)返回的第1返回光和从光纤(4)返回的第2返回光的信息;不良情况判定部(14),其根据分离出的第1返回光和第2返回光,判定在光学探针(2)中产生的不良情况;以及通知部(15),其通知判定出的不良情况的信息。

    培养基更换装置和培养系统

    公开(公告)号:CN110462019A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201880018358.3

    申请日:2018-04-04

    IPC分类号: C12M3/00 C12M1/00

    摘要: 一种培养基更换装置(1),其具有:盖部件(4),其为平板状,其配置在覆盖2个以上的能够贮存培养基的区域(110)的位置,该区域(110)相邻地配置并在上方开口;1个以上的流路部件(5),它们沿厚度方向贯穿盖部件(4),配置成两端的开口朝一侧露出,中途位置朝另一侧露出,在盖部件(4)配置于覆盖区域(110)的位置时,该流路部件(5)配置于从一个区域(110)架设至其他区域(110)的位置;以及泵(2),其配置于盖部件(4)的另一侧,作用于朝另一侧露出的流路部件(5)的中途位置而使培养基从一端的开口朝向另一端的开口流动。