电磁攻击检测装置、检测方法及其制成的电能表

    公开(公告)号:CN106483371B

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN201611089460.1

    申请日:2016-12-01

    IPC分类号: G01R22/06

    摘要: 本发明公开了一种电磁攻击检测装置,包括控制器模块、电源模块、通信模块、数据转换模块、脉冲磁场攻击检测模块、瞬变电场和电磁场攻击检测模块和磁传感器检测模块;电源模块供电;脉冲磁场攻击检测模块、瞬变电场和电磁场攻击检测模块和磁传感器检测模块通过数据转换模块连接控制器模块;通信模块连接控制器模块。本发明还提供了所述电磁攻击检测装置的检测方法,包括获取典型攻击场景下的输出波形和对应的攻击强度值;获取数据转换通道的通道号;根据通道号和上传的采样数据判断和记录攻击数据。本发明还提供了应用所述电磁攻击检测装置和检测方法制成的电能表。本发明能检测多类型电磁攻击,进行攻击信号采集和类型判定,使用方便,适用面广。

    时钟校准方法、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN114859285A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210356861.8

    申请日:2022-04-06

    IPC分类号: G01R35/04 G04G5/00

    摘要: 本发明公开了一种时钟校准方法、电子设备及可读存储介质,应用于时钟校准技术领域,包括:获取待校准目标在基础温度校准点下的粗调校准系数,基础温度校准点包括基础常温校准点和基础非常温校准点;依据待校准目标的实时温度和所述粗调校准系数的对应关系,确定待校准目标的粗调校准曲线,粗调校准曲线用于对所述待校准目标进行粗调补偿;获取待校准目标在精调温度校准点下的精调校准系数;依据待校准目标的实时温度,对精调校准系数和粗调校准曲线进行融合,得到待校准目标的精调校准曲线,精调校准曲线用于对所述待校准目标进行精调补偿;依据精调校准曲线,校准待校准目标。本发明解决了现有技术中电能表的时钟校准精度较低的技术问题。

    基于离散频谱校正的电能计量方法

    公开(公告)号:CN107390022A

    公开(公告)日:2017-11-24

    申请号:CN201710729394.8

    申请日:2017-08-23

    IPC分类号: G01R22/10

    摘要: 本发明公开了一种基于离散频谱校正的电能计量方法,包括将转换为数字量的电压和电流信号采用窗长为N的Nuttall四项三阶窗进行时域截断;采用谱质心公式计算得到基波的谱质心和基波频率;估算谐波峰值位置,计算谐波谱质心和基波及各次谐波的最大谱峰位置和偏移量;确定基波谐波幅值修正系数,并计算被测电压、电流的基波、谐波幅值和相位;计算基波和谐波的电参数,完成电能计量。因此本发明方法不需要进行峰值搜索,不需要根据所加窗函数的类型计算偏移量,而且相省去了过零点检测,其直接采用FFT分析法进行计算,省去了复杂的窗谱运算,计算和分析得到的频率精度大大提高,而且程序实现简单,实时性好。

    基于SOC芯片电表的MCU内置基准温度补偿方法

    公开(公告)号:CN102662107A

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN201210155429.9

    申请日:2012-05-18

    IPC分类号: G01R22/10

    摘要: 本发明公开了一种基于SOC电表方案的MCU内置基准温度补偿方法。该方法首先测量得到内置基准及误差与温度的关系数据,再通过计算得到内置基准校正所需的微调因子与温度的对应关系,并将相关数据点存储起来,建立补偿数据表格以供查表使用;然后通过使用MCU微控制器的片上温度传感器定时读取片上温度,并采用查表和插值相结合的方法计算该温度下的内置基准微调因子;最后使用计算得到的微调因子设置内置基准数字调节寄存器的值,以补偿由于温度变化造成的内置基准的波动。本发明克服了温度效应对基准电压、A/D转换结果及电能测量精度的影响,简化了后续的温度补偿处理环节,可操作性强、成本低、稳定性好,可广泛应用于基于嵌入式SOC方案的电能计量领域中。

    一种高压电能表
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118112300A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410305371.4

    申请日:2024-03-18

    摘要: 本发明适用于智能电表技术领域,涉及一种高压电能表,包括:第一计量单元、第二计量单元和连接单元;第一计量单元包括第一高压模块、第一罗氏线圈CT1和第一主管理单元模块,第一高压模块与A相、B相分别电性连接,第一高压模块、第一罗氏线圈CT1分别与第一主管理单元模块电性连接;第二计量单元包括第二高压模块、第二罗氏线圈CT2和第二主管理单元模块,第二高压模块与B相、C相分别电性连接,第二高压模块、第二罗氏线圈CT2分别与第二主管理单元模块电性连接;连接单元包括两组导线,连接单元与B相电性连接,两组导线分别与第一高压模块、第二高压模块电性连接。本发明结构简单,体积小的同时功耗低,另外计量误差精度和可靠性能得到保证。

    智能电能表双控制器的数据管理方法

    公开(公告)号:CN106406283A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610939210.6

    申请日:2016-10-25

    IPC分类号: G05B23/02

    摘要: 本发明公开了一种智能电能表双控制器的数据管理方法,包括管理控制器上电复位并与计量控制器握手的步骤;管理控制器读取预存参数并对计量控制器进行参数配置的步骤;管理控制器读取计量控制器的计量数据并判定合法性的步骤;管理控制器读取计量控制器的运行参数并判定合法性的步骤。本发明通过上电复位与握手判断、参数配置与判断、计量数据合法性判断和运行参数合法性判断等步骤,实现了电能表管理控制器与计量控制器的正常运行和计量数据交互的可靠性,从而确保智能电能表计量的准确性、可靠性和稳定性。

    基于SOC芯片电表的MCU内置基准温度补偿方法

    公开(公告)号:CN102662107B

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN201210155429.9

    申请日:2012-05-18

    IPC分类号: G01R22/10

    摘要: 本发明公开了一种基于SOC电表方案的MCU内置基准温度补偿方法。该方法首先测量得到内置基准及误差与温度的关系数据,再通过计算得到内置基准校正所需的微调因子与温度的对应关系,并将相关数据点存储起来,建立补偿数据表格以供查表使用;然后通过使用MCU微控制器的片上温度传感器定时读取片上温度,并采用查表和插值相结合的方法计算该温度下的内置基准微调因子;最后使用计算得到的微调因子设置内置基准数字调节寄存器的值,以补偿由于温度变化造成的内置基准的波动。本发明克服了温度效应对基准电压、A/D转换结果及电能测量精度的影响,简化了后续的温度补偿处理环节,可操作性强、成本低、稳定性好,可广泛应用于基于嵌入式SOC方案的电能计量领域中。

    基波频率测量方法、测量终端及存储介质

    公开(公告)号:CN111896807A

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN202010782601.8

    申请日:2020-08-05

    IPC分类号: G01R23/02 G01R23/167

    摘要: 本发明公开了一种基波频率测量方法、测量终端及存储介质,所述方法包括:根据预设采样频率采集多个原始电压信号;对采集的原始电压信号进行数字低通滤波处理,获得滤波后信号;根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号,获取过零点和过零点的位置序列号;选择任意两个过零点,并根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率,获得基波频率。本发明解决了现有基于一元线性回归的过零检测法测量频率受谐波影响大的问题。

    电压波动检测方法及其关口表

    公开(公告)号:CN108614147B

    公开(公告)日:2020-09-22

    申请号:CN201810426466.6

    申请日:2018-05-07

    IPC分类号: G01R19/165

    摘要: 本发明公开了一种电压波动检测方法,包括对电压信号进行采样并计算半波有效值;确定电压信号的拐点;确定电压信号的有效变动状态;计算电压波动累加值;计算电压波动值。本发明还公开了包括所述电压波动检测方法的关口表。本发明通过简单可靠的方法对电压波动频率和电压波动赋值进行检测,不仅检测精度高,而且检测效果好,方法简单可靠,而且不会占用大量的硬件资源。