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公开(公告)号：CN115131553B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211051607.3
申请日：2022-08-30
申请人： 季华实验室
摘要： 本发明涉及图像处理领域，具体为一种遮挡孔定位方法、装置、电子设备及存储介质。该遮挡孔定位方法包括步骤：获取待识别图像；根据待识别图像获取所有识别孔的第一坐标；获取待识别图像中所有孔的孔数量；基于第一坐标，根据孔数量获取待识别图像中所有孔的孔排序；基于孔排序获取所有遮挡孔的第二坐标；根据第二坐标计算各遮挡孔的第三坐标；本发明能够准确确定工件上遮挡孔的位置，在被遮挡情况下实现识别定位。
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公开(公告)号：CN115082560A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210864438.9
申请日：2022-07-22
申请人： 季华实验室
IPC分类号： G06T7/73 , G06T7/00 , G06V10/56 , G06V10/75 , G06V10/74 , B65G47/14 , B65G47/90 , B65G47/248 , B23P19/00
摘要： 本申请属于物料运送技术领域，公开了一种物料位姿识别方法、装置、电子设备及上料系统，通过获取包含零件的原始图像；在原始图像中生成零件的最小外接矩形；根据最小外接矩形获取零件的位置数据和主方向夹角；提取最小外接矩形内的第一图像，以计算第一图像与第一模板图像的第一相似度，并计算第一图像与第二模板图像的第二相似度；根据主方向夹角、第一相似度和第二相似度确定零件的旋转角度；把位置数据和旋转角度映射到世界坐标系中，得到零件的位姿；从而对零件位姿识别效率高，有利于提高上料效率。
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公开(公告)号：CN115861146B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202310177595.7
申请日：2023-02-28
申请人： 季华实验室
摘要： 本申请属于图像处理技术领域，公开了一种目标被遮挡的处理方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：获取被遮挡接口的接口图片和参考图片，提取接口图片的光度图以及参考图片的参考光度图和参考色度图；根据接口图片的光度图获取光度梯度图，根据参考图片的参考光度图获取参考光度梯度图；基于模板匹配方法，把光度梯度图和参考光度梯度图融合得到融合光度梯度图；根据融合光度梯度图获取对应的融合光度图，根据模板匹配结果，对参考色度图进行融合处理以得到融合色度图；融合融合光度图和融合色度图以得到对应的RGB图，作为被遮挡接口的去除遮挡物的第一输出图像，即完成对被遮挡的接口图片的图像修复，以提高被遮挡接口的定位精准度。
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公开(公告)号：CN115861146A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202310177595.7
申请日：2023-02-28
申请人： 季华实验室
摘要： 本申请属于图像处理技术领域，公开了一种目标被遮挡的处理方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：获取被遮挡接口的接口图片和参考图片，提取接口图片的光度图以及参考图片的参考光度图和参考色度图；根据接口图片的光度图获取光度梯度图，根据参考图片的参考光度图获取参考光度梯度图；基于模板匹配方法，把光度梯度图和参考光度梯度图融合得到融合光度梯度图；根据融合光度梯度图获取对应的融合光度图，根据模板匹配结果，对参考色度图进行融合处理以得到融合色度图；融合融合光度图和融合色度图以得到对应的RGB图，作为被遮挡接口的去除遮挡物的第一输出图像，即完成对被遮挡的接口图片的图像修复，以提高被遮挡接口的定位精准度。
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公开(公告)号：CN115082560B
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210864438.9
申请日：2022-07-22
申请人： 季华实验室
IPC分类号： G06T7/73 , G06T7/00 , G06V10/56 , G06V10/75 , G06V10/74 , B65G47/14 , B65G47/90 , B65G47/248 , B23P19/00
摘要： 本申请属于物料运送技术领域，公开了一种物料位姿识别方法、装置、电子设备及上料系统，通过获取包含零件的原始图像；在原始图像中生成零件的最小外接矩形；根据最小外接矩形获取零件的位置数据和主方向夹角；提取最小外接矩形内的第一图像，以计算第一图像与第一模板图像的第一相似度，并计算第一图像与第二模板图像的第二相似度；根据主方向夹角、第一相似度和第二相似度确定零件的旋转角度；把位置数据和旋转角度映射到世界坐标系中，得到零件的位姿；从而对零件位姿识别效率高，有利于提高上料效率。
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公开(公告)号：CN115131553A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202211051607.3
申请日：2022-08-30
申请人： 季华实验室
摘要： 本发明涉及图像处理领域，具体为一种遮挡孔定位方法、装置、电子设备及存储介质。该遮挡孔定位方法包括步骤：获取待识别图像；根据待识别图像获取所有识别孔的第一坐标；获取待识别图像中所有孔的孔数量；基于第一坐标，根据孔数量获取待识别图像中所有孔的孔排序；基于孔排序获取所有遮挡孔的第二坐标；根据第二坐标计算各遮挡孔的第三坐标；本发明能够准确确定工件上遮挡孔的位置，在被遮挡情况下实现识别定位。
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