基于晶体有效高度的CZT探测器效率计算方法及设备

    公开(公告)号:CN118011453B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202410164135.5

    申请日:2024-02-05

    IPC分类号: G01T1/178 G01T1/36 G01T1/24

    摘要: 本发明的一种基于晶体有效高度的CZT探测器效率计算方法及设备,包括S1、准备所需的设备;准备241Am、152Eu、137Cs和60Co点状标准放射源简称点源以及CZT探测器;S2、调节CZT探测器工作参数,使其处于最佳工作状态;S3、测量241Am、152Eu、137Cs和60Co点源γ能谱;S4、基于步骤S3建立效率计算模型;S5、将CZT探测器结构标称参数作为效率计算模型的输入参数,计算探测效率;S6、调整CZT体晶体及探测器机构参数,再计算探测效率;S7、最后验证计算模型,模型确定后,用于计算CZT探测器的探测效率。本发明通过调整计算模型中的参数与实验数据反复对比的方法计算CZT晶体的有效高度,并将其作为计算模型的输入参数,测量和计算过程较简单,不需要复杂的模拟过程就可以得到准确的计算结果。

    基于晶体有效高度的CZT探测器效率计算方法及设备

    公开(公告)号:CN118011453A

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202410164135.5

    申请日:2024-02-05

    IPC分类号: G01T1/178 G01T1/36 G01T1/24

    摘要: 本发明的一种基于晶体有效高度的CZT探测器效率计算方法及设备,包括S1、准备所需的设备;准备241Am、152Eu、137Cs和60Co点状标准放射源简称点源以及CZT探测器;S2、调节CZT探测器工作参数,使其处于最佳工作状态;S3、测量241Am、152Eu、137Cs和60Co点源γ能谱;S4、基于步骤S3建立效率计算模型;S5、将CZT探测器结构标称参数作为效率计算模型的输入参数,计算探测效率;S6、调整CZT体晶体及探测器机构参数,再计算探测效率;S7、最后验证计算模型,模型确定后,用于计算CZT探测器的探测效率。本发明通过调整计算模型中的参数与实验数据反复对比的方法计算CZT晶体的有效高度,并将其作为计算模型的输入参数,测量和计算过程较简单,不需要复杂的模拟过程就可以得到准确的计算结果。

    基于无源效率刻度的放射性药物活度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118011458A

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202410164132.1

    申请日:2024-02-05

    IPC分类号: G01T1/36 G01T1/18 G01T1/178

    摘要: 本发明的一种基于无源效率刻度的放射性药物活度测量装置及方法,包括探测器基座、CZTγ能谱探测器,样品托盘、样品支架、限位器,CZTγ能谱探测器放置在探测器基座上;样品支架固定在探测器基座的上方;样品支架内水平设置样品托盘;样品托盘用于放置放射性溶液容器,放射性溶液容器内放置放射性溶液。本发明使用新型半导体CZTγ能谱探测器记录放射性药物发射的γ射线,并通过γ射线能谱识别不同核素。采用本发明可测量任何条件下放射性药物样品的活度,不受放射性药物容器的几何形状和材质限制、不受放射性药物体积限制、不受样品与探测器之间的距离和相对位置限制,可以满足放射性药物诊疗过程中的多场景需求。