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公开(公告)号：CN100555075C
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN200510108242.3
申请日：2005-10-08
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor： 格雷戈里·史蒂文·李 , 罗伯特·C·泰伯 , 伊扎克·巴哈拉夫
CPC classification number: G01S13/89
Abstract: 本发明公开了一种用于用电磁辐射的相干波束将目标成像的技术，包括：通过一组正交横向空间模式使相干波束的至少一部分序列化以及将从该组正交横向空间模式得到的输出信号相加。为产生目标的图像，相干波束应用到目标上的多个点并在每个点处通过同一组正交横向空间模式被序列化。从序列化产生的输出信号被逐点相加。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1780050A
公开(公告)日：2006-05-31
申请号：CN200510105108.8
申请日：2005-09-22
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor： 格雷戈里·史蒂文·李 , 罗伯特·C·泰伯 , 约翰·斯蒂夫·考弗尔
CPC classification number: H05K1/16 , H01Q3/46 , H01Q15/148 , H01Q19/10 , H01Q21/0018 , H01Q23/00 , H05K1/181 , H05K3/429 , H05K2201/0949 , H05K2201/10166
Abstract: 本发明公开了一种用于反射电磁辐射的器件。反射阵列利用具有非理想阻抗特性的开关器件以改变反射元件的阻抗。反射元件的天线被配置为非理想开关器件的阻抗的函数，以提供最佳的相幅性能。具体地，天线被配置成使得每个天线的阻抗与非理想开关器件在开状态时和在关状态时的阻抗的平方根成比例。
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公开(公告)号：CN100465628C
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：CN200510068211.X
申请日：2005-04-27
Applicant: 安捷伦科技有限公司
CPC classification number: G01S13/89 , G01N22/00 , G01S13/867
Abstract: 一种成像系统包括光学(可见光或近IR)成像系统和微波成像系统。光学成像系统捕捉物体的光学图像，产生代表光学图像的光学图像数据，并且从光学图像数据中提取光学图像信息。微波成像系统响应于光学图像信息，产生代表物体的微波图像的微波图像数据。
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公开(公告)号：CN1770007A
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN200510108242.3
申请日：2005-10-08
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor： 格雷戈里·史蒂文·李 , 罗伯特·C·泰伯 , 伊扎克·巴哈拉夫
CPC classification number: G01S13/89
Abstract: 本发明公开了一种用于用电磁辐射的相干波束将目标成像的技术，包括：通过一组正交横向空间模式使相干波束的至少一部分序列化以及将从该组正交横向空间模式得到的输出信号相加。为产生目标的图像，相干波束应用到目标上的多个点并在每个点处通过同一组正交横向空间模式被序列化。从序列化产生的输出信号被逐点相加。
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公开(公告)号：CN1780050B
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN200510105108.8
申请日：2005-09-22
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor： 格雷戈里·史蒂文·李 , 罗伯特·C·泰伯 , 约翰·斯蒂夫·考弗尔
CPC classification number: H05K1/16 , H01Q3/46 , H01Q15/148 , H01Q19/10 , H01Q21/0018 , H01Q23/00 , H05K1/181 , H05K3/429 , H05K2201/0949 , H05K2201/10166
Abstract: 本发明公开了一种用于反射电磁辐射的器件。反射阵列利用具有非理想阻抗特性的开关器件以改变反射元件的阻抗。反射元件的天线被配置为非理想开关器件的阻抗的函数，以提供最佳的相幅性能。具体地，天线被配置成使得每个天线的阻抗与非理想开关器件在开状态时和在关状态时的阻抗的平方根成比例。
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公开(公告)号：CN1707250A
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN200510068211.X
申请日：2005-04-27
Applicant: 安捷伦科技有限公司
CPC classification number: G01S13/89 , G01N22/00 , G01S13/867
Abstract: 一种成像系统包括光学(可见光或近IR)成像系统和微波成像系统。光学成像系统捕捉物体的光学图像，产生代表光学图像的光学图像数据，并且从光学图像数据中提取光学图像信息。微波成像系统响应于光学图像信息，产生代表物体的微波图像的微波图像数据。
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