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公开(公告)号：CN1859009A
公开(公告)日：2006-11-08
申请号：CN200610075752.X
申请日：2006-04-26
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor： 安德鲁·D·费尔南德茨 , 瓦姆斯·K·斯里坎特姆 , 罗伯特·M·R·奈佛 , 肯尼思·D·波洛通
CPC classification number: H03M1/10 , H03M1/1205 , H03M1/662
Abstract: 本发明提供了一种用于校准时间交错式采样器的方法，该方法包括将校准信号施加到时间交错式采样设备，其中该信号与该设备上的至少一个采样时钟相干，并且是周期性的，并且具有预定的频谱内容和频率；通过所述时间交错式采样设备在多个相位处对校准信号进行采样以形成样本；对所形成的样本进行平均；以及基于平均校准信号样本来计算每个样本的相位误差。
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