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公开(公告)号：CN103828345A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201280047885.X
申请日：2012-06-21
Applicant: 富士胶片株式会社
Abstract: 本发明的方面的图像处理方法包括：获得由包括在水平方向和垂直方向上重复地部署基本阵列样式的图像拾取元件的图像拾取装置拾取的马赛克图像；以及存储第一校正数据和第二校正数据，所述第一校正数据包含图像拾取元件中的缺陷像素的坐标和与基本阵列样式中的缺陷像素的位置有关的校正信息，并且所述第二校正数据包含与校正信息相对应并且指示相对于缺陷像素具有与缺陷像素相同的颜色并且用于校正缺陷像素的多个周围像素的位置。然后，基于包含在第一校正数据中的校正信息，读出校正样式，基于第一校正数据和所读出的校正样式来计算将用于校正缺陷像素的周围像素的坐标，从马赛克图像提取与位于所计算的坐标处的周围像素相对应的像素值，以及通过内插所提取的像素值来计算缺陷像素的像素值。
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公开(公告)号：CN103404123A
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201180068655.7
申请日：2011-11-08
Applicant: 富士胶片株式会社
Inventor： 矢村豪彦
IPC: H04N5/367
Abstract: 本发明提供了能够提高缺陷像素校正的精度的成像装置和缺陷像素校正方法。在校正目标像素是G像素的情况下，缺陷像素校正单元（19）判定在G像素周围是否存在边缘部分；当存在边缘部分时，缺陷像素校正单元（19）通过使用在X形方向上邻近该G像素的多个G像素来进行缺陷校正；当不存在边缘部分时，使用在十字方向上邻近该G像素的多个G像素来进行缺陷校正。
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公开(公告)号：CN103404123B
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201180068655.7
申请日：2011-11-08
Applicant: 富士胶片株式会社
Inventor： 矢村豪彦
IPC: H04N5/367
Abstract: 提供了能够提高缺陷像素校正的精度的成像装置和缺陷像素校正方法。在校正目标像素是G像素的情况下，缺陷像素校正单元（19）判定在G像素周围是否存在边缘部分；当存在边缘部分时，缺陷像素校正单元（19）通过使用在X形方向上邻近该G像素的多个G像素来进行缺陷校正；当不存在边缘部分时，使用在十字方向上邻近该G像素的多个G像素来进行缺陷校正。
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公开(公告)号：CN103828345B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201280047885.X
申请日：2012-06-21
Applicant: 富士胶片株式会社
Abstract: 本发明的方面的图像处理方法包括：获得由包括在水平方向和垂直方向上重复地部署基本阵列样式的图像拾取元件的图像拾取装置拾取的马赛克图像；以及存储第一校正数据和第二校正数据，所述第一校正数据包含图像拾取元件中的缺陷像素的坐标和与基本阵列样式中的缺陷像素的位置有关的校正信息，并且所述第二校正数据包含与校正信息相对应并且指示相对于缺陷像素具有与缺陷像素相同的颜色并且用于校正缺陷像素的多个周围像素的位置。然后，基于包含在第一校正数据中的校正信息，读出校正样式，基于第一校正数据和所读出的校正样式来计算将用于校正缺陷像素的周围像素的坐标，从马赛克图像提取与位于所计算的坐标处的周围像素相对应的像素值，以及通过内插所提取的像素值来计算缺陷像素的像素值。
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